[实用新型]一种光模块动态温循测试设备

权利要求书

1.一种光模块动态温循测试设备，其特征在于，包括：

温循测试箱，其内设置有测试光源及与所述测试光源级联的多个被测光模块；

误码仪，其上设置有发射电口与接收电口，所述发射电口与所述测试光源的电口发射端连接，所述接收电口与所述测试光源的电口接收端连接；

其中，所述温循测试箱包括：

温循测试板，所述测试光源与多个被测光模块均设置于所述温循测试板上，所述测试光源的光输出接口与第一个被测光模块的光输入接口对应连接，所述测试光源的光输入接口与最后一个被测光模块的光输出接口对应连接；当前被测光模块的光输入接口与上一被测光模块的光输出接口对应连接；所述被测光模块的发射电口与接收电口对应环回；

多个波分复用器，其与所述测试光源、所述被测光模块一一对应连接，用于对所述测试光源与所述被测光模块发射、接收的光信号进行波长选择。

2.根据权利要求1所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，所述多个被测光模块包括第一被测光模块、第二被测光模块与第三被测光模块，所述测试光源的光输出接口与所述第一被测光模块的光输入接口对应连接，所述第一被测光模块的光输出接口与所述第二被测光模块的光输入接口对应连接，所述第二被测光模块的光输出接口与所述第三被测光模块的光输入接口对应连接，所述第三被测光模块的光输出接口与所述测试光源的光输入接口对应连接。

3.根据权利要求2所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，所述测试光源输出光信号的波长与所述第一被测光模块输入光信号的波长相同，所述第一被测光模块输出光信号的波长与所述第二被测光模块输入光信号的波长相同，所述第二被测光模块输出光信号的波长与所述第三被测光模块输入光信号的波长相同，所述第三被测光模块输出光信号的欧畅与所述测试光源输入光信号的波长相同。

4.根据权利要求2所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，所述波分复用器包括第一波分复用器、第二波分复用器、第三波分复用器与第四波分复用器，所述第一波分复用器与所述测试光模块连接，所述第二波分复用器与所述第一被测光模块连接，所述第三波分复用器与所述第二被测光模块连接，所述第四波分复用器与所述第三被测光模块连接。

5.根据权利要求4所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，所述测试光源、所述被测光模块的光输入接口与光输出接口为同一光口，所述光口与所述波分复用器的发射光口、接收光口连接。

6.根据权利要求2所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，所述温循测试板上设置有第一插槽、第二插槽、第三插槽与第四插槽，所述测试光源插入所述第一插槽内，所述第一被测光模块插入所述第二插槽内，所述第二被测光模块插入所述第三插槽内，所述第三被测光模块插入所述第四插槽内。

7.根据权利要求2所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，所述测试光源与所述第一被测光模块为一对BIDI光模块，所述第二被测光模块与所述第三被测光模块为一对BIDI光模块。

8.根据权利要求7所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，所述第一被测光模块与所述第三被测光模块为同端BIDI光模块，所述测试光源与所述第二被测光模块为同端BIDI光模块。

9.根据权利要求1所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，所述测试光源与所述被测光模块的数量之和为2的偶数倍。

10.根据权利要求1所述的光模块动态温循测试设备，其特征在于，还包括MCU与多路选择器，所述MCU的SCL线与所述多路选择器的输入端连接，所述多路选择器的输出端分别与所述被测光模块连接；所述MCU的SDA线分别与所述被测光模块连接。