[实用新型]成像模组测试装置

说明书

本申请涉及一种成像模组测试装置，包括机座、测试卡、光源和升降机构，机座设有暗箱，暗箱内设有定位治具，测试卡位于暗箱内，且具有多个彼此间隔的透光部，光源设置于测试卡的背向成像模组的一侧，升降机构用于调整测试卡与成像模组的距离。本申请的摄成像模组测试装置，利用位于暗箱内的测试卡上的多个彼此间隔的透光部来满足光源所发出的光透过后，分为多个不同视场的点光源，从而在这些点光源的光线从成像模组的相位板进入成像模组的感光元件时，能够在感光元件成像出对应不同视场点光源的点扩散函数，从而能够满足对带相位板的成像模组的光学性能测试需要。

技术领域

本申请涉及成像模组光学测试技术领域，特别是涉及成像模组测试装置。

背景技术

随着消费者对手机等成像模组测试装置拍照功能的要求越来越高，市面上出现了长焦摄像头和广角摄像头等成像模组，甚至满足显微拍摄的成像模组。然而，目前的测试装置的测试能力受限，具有很大局限性，影响产品检验质量和效率。

实用新型内容

本申请实施例中提供一种成像模组测试装置，解决成像模组测试装置的测试能力局限问题。

本申请提供一种成像模组测试装置，包括：

机座，设置有暗箱，所述暗箱内设有定位治具，所述定位治具用于对待测的成像模组进行定位，所述成像模组包括感光元件、透镜组件和相位板；

测试卡，位于所述暗箱内，所述测试卡具有多个彼此间隔的透光部；

光源，设置于所述测试卡的背向所述成像模组的一侧，所述光源用于朝所述测试卡出光，并使得光线透过多个所述透光部并经所述相位板和所述透镜组件入射至所述感光元件；

升降机构，用于调整所述测试卡与所述成像模组的距离。

上述成像模组测试装置，利用测试卡上的多个彼此间隔的透光部来满足光源所发出的光透过后，分为多个不同视场的点光源，在这些点光源的光线从成像模组的相位板进入成像模组的感光元件时，能够在感光元件成像出对应不同视场点光源的点扩散函数，从而能够满足对带相位板的成像模组的光学性能测试需要。

在其中一个实施例中，所述透镜组件的光轴与所述测试卡相垂直，多个所述透光部呈矩形整列排布，且多个所述透光部所形成的矩形区域的中心与所述感光元件的感光区的中心均位于所述透镜组件的光轴上。

在其中一个实施例中，所述透光部的轮廓呈圆形，直径为1μm～100μm。

在其中一个实施例中，所述测试卡由非透光材质制成，所述透光部为贯穿所述测试卡的通孔。

在其中一个实施例中，所述测试卡由透光材质制成，所述测试卡的至少一侧设置遮光件，所述遮光件覆盖所述测试卡的局部，以使得所述测试卡未被覆盖的区域形成所述透光部。

在其中一个实施例中，所述遮光件包括覆设于所述测试卡上的油墨层；或者，所述遮光件包括透光率小于5％的薄膜层；或者，所述遮光件包括薄膜层和油墨层，所述薄膜层真空贴附于所述测试卡，所述油墨层叠设于所述薄膜层远离所述测试卡的一侧。

在其中一个实施例中，所述测试卡由透光材质制成，所述测试卡的至少一侧覆设有透明膜层，所述透明膜层的背向所述测试卡的一侧局部喷覆遮光油墨，以在未喷覆所述遮光油墨的位置形成所述透光部。

在其中一个实施例中，所述光源为点光源，所述光源设置于距离所述测试卡1cm～5cm处。

在其中一个实施例中，所述光源包括发光元件以及导光板，所述导光板叠设于所述测试卡，所述发光元件所发出的光经所述导光板向所述测试卡均匀出光。

在其中一个实施例中，所述发光元件包括LED灯珠，所述LED灯珠集成于PCB板，所述升降机构连接有安装板，所述PCB板固定于所述安装板，且能够随所述安装板在所述升降机构的驱使下相对所述成像模组升降运动。