[实用新型]一种用于芯片直流工作电压测量设备

权利要求书

1.一种用于芯片直流工作电压测量设备，包括主机(1)，其特征在于：所述主机(1)的底端安装有连接孔(3)，且连接孔(3)的中部安装有插头(4)，所述插头(4)的内壁连接有导线头(5)，所述导线头(5)的内壁安装有固定架(6)，且固定架(6)的内壁安装有收缩架(7)，所述固定架(6)的中部穿设有固定螺丝(8)，所述主机(1)的后端安装有封盖机构(9)，且封盖机构(9)的底端安装有收纳机构(10)，所述收纳机构(10)包括收纳箱(1001)，且收纳箱(1001)的中部安装有收线架(1002)所述收线架(1002)的底端安装有卡槽(1003)。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片直流工作电压测量设备，其特征在于：所述收纳箱(1001)与收线架(1002)之间为活动连接，且收线架(1002)通过卡槽(1003)与收纳箱(1001)构成卡合结构。

3.根据权利要求1所述的一种用于芯片直流工作电压测量设备，其特征在于：所述收线架(1002)设计为三角结构。

4.根据权利要求1所述的一种用于芯片直流工作电压测量设备，其特征在于：所述封盖机构(9)包括盖板(901)、滑条(902)和槽架(903)，且盖板(901)的两侧安装有滑条(902)，所述滑条(902)的底端安装有槽架(903)。

5.根据权利要求4所述的一种用于芯片直流工作电压测量设备，其特征在于：所述盖板(901)通过滑条(902)与槽架(903)构成滑动结构，且滑条(902)与槽架(903)之间为活动连接。

6.根据权利要求1所述的一种用于芯片直流工作电压测量设备，其特征在于：所述导线头(5)通过固定螺丝(8)与固定架(6)和收缩架(7)构成固定结构，且固定架(6)与收缩架(7)之间为活动连接。