[实用新型]一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构

说明书

本实用新型涉及芯片外观检测技术领域，具体的说是一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，包括支撑柜，所述支撑柜一侧固定连接有第二传输机，所述第二传输机一侧固定连接有第一传输机，所述第一传输机和第二传输机上侧分别设有传送带，所述支撑柜上表面固定安装有翻转组件，所述翻转组件一侧固定连接有夹具；通过第一传输机可以进行芯片传输，通过翻转组件一侧固定连接有夹具可以将第一传输机上的芯片进行夹取，通过翻转组件进行翻面操作，然后松开夹具，使得芯片掉落至第二传输机的传送带，使得使用者可以通过本实用新型完成对芯片翻转，不需要人工进行芯片翻面，加快了工作效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片外观检测技术领域，具体而言，涉及一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构。

背景技术

芯片是将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。在芯片生产中容易受到损坏，需要对芯片进行外观检测，但是，传统的芯片在进行外观检测时，需要人工进行翻面检查，加大了工人的任务量，芯片由于体积原因，不容易进行收取，使得在检查芯片拿起芯片费时费力，加大了工作难度。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构，包括支撑柜，所述支撑柜一侧固定连接有第二传输机，所述第二传输机一侧固定连接有第一传输机，所述第一传输机和第二传输机上侧分别设有传送带，所述支撑柜上表面固定安装有翻转组件，所述翻转组件一侧固定连接有夹具，所述支撑柜上侧固定连接有外壳。

作为优选，所述翻转组件包括有固定板，所述固定板设于外壳上表面，所述固定板一侧表面固定连接有第一电动推杆，所述第一电动推杆输出端固定连接有活动板。

作为优选，所述活动板下侧固定连接有限位板，所述支撑柜上侧设有限位槽，所述限位板滑动连接有限位槽。

作为优选，所述限位板一侧固定连接有连接柱，所述连接柱远离限位板的一侧活动安装有齿轮，所述齿轮啮合连接有齿轨，所述齿轨设于支撑柜上表面，所述齿轮远离连接柱的一侧表面固定安装夹具。

作为优选，所述夹具包括有第二电动推杆，所述第二电动推杆固定安装于齿轮远离连接柱的一侧表面，所述第二电动推杆输出端固定连接有支撑架。

作为优选，所述支撑架内部活动连接有上夹板，所述支撑架下侧固定连接有下夹板，所述支撑架上侧固定安装有第三电动推杆，所述第三电动推杆输出端固定连接有上夹板。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型通过控制第三电动推杆可以让上夹板和下夹板做夹紧动作，通过支撑架上侧固定安装有第三电动推杆，且第二电动推杆输出端固定连接有支撑架，使得第二电动推杆可以带着支撑架进行上升下降，使得齿轮在进行转动时，防止下夹板与第一传输机的传送带接触影响翻转；

本实用新型通过控制第一电动推杆，可以控制夹具进行翻转，从而实现对芯片进行翻转，然后松开夹具，使得芯片掉落至第二传输机的传送带，其传动带上表面可以黏贴一层弹性防护垫，保护芯片不会受到损伤，使得使用者可以通过本实用新型完成对芯片翻转，不需要人工进行芯片翻面，加快了工作效率。

附图说明

图1为本实用新型一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的整体结构示意图；

图2为本实用新型一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的翻转组件结构示意图；

图3为本实用新型一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的夹具结构示意图；

图4为本实用新型一种用于SOP8芯片外观检测的自动翻面机构的图3中A处放大结构示意图。