[实用新型]一种老化座

说明书

本实用新型公开了一种老化座，包括座体、夹持部和与所述夹持部电性连接的插接部，所述夹持部和所述插接部分别设置在所述座体的两端，所述夹持部包括多个一一相对设置的卡接端，所述插接部包括多个一一相对设置的插针，同一条线上的卡接端与插针形成导电件。其可以安装大量的电子元件，而能一次性大量测试电子元件。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件的老化测试领域，尤其涉及一种老化座。

背景技术

在电子元件(电阻、电容、电感和芯片)出厂时，为了保证电子元件的品质，都需要对电子元件进行老化测试。

在测试电子元件时，一般都会把电子元件先安装在老化座或者老化板，再把安装有电阻元件的老化座或者老化板设置在测试装置或者系统上进行老化测试。

目前在市场上出现了一些老化座，但这些老化座能安装的电子元件数量不多，导致不能一次性测试大量电子元件。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种老化座，其可以安装大量的电子元件，而能一次性大量测试电子元件。

本实用新型的目的采用以下技术方案实现：

一种老化座，包括座体、夹持部和与所述夹持部电性连接的插接部，所述夹持部和所述插接部分别设置在所述座体的两端，所述夹持部包括多个一一相对设置的卡接端，所述插接部包括多个一一相对设置的插针，同一条线上的卡接端与插针形成导电件。

优选的，所述卡接端包括第一弹性杆、第一弯曲头、第二弹性杆和第二弯曲头，所述第一弯曲头通过所述第一弹性杆与所述插针固定连接，所述第二弯曲头通过所述第二弹性杆与所述插针固定连接，相对设置的两个卡接端上的第一弯曲头相对设置、相对设置的两个卡接端上的第二弯曲头相对设置而形成所述的夹持部。

优选的，所述第一弹性杆的长度大于所述第二弹性杆的长度，所述第一弯曲头的高度大于所述第二弯曲头的高度。

优选的，同一所述卡接端上的所述第一弯曲头和所述第二弯曲头弯曲的方向一致，相对设置的两个第一弯曲头弯曲的方向相反，相对设置的两个第二弯曲头弯曲的方向相反。

优选的，同一所述卡接端上的所述第一弯曲头与所述第二弯曲头相对设置，所述第一弯曲头的宽度与所述第二弯曲头的宽度相等。

优选的，所述第一弯曲头和所述第二弯曲头上均设置有弧形面，所述弧形面的弧度为60-90度。

优选的，所述座体包括固定板和多个穿孔，所述导电件通过所述穿孔穿过所述座体，所述插针穿过所述座体的部分呈L型，所述插针呈L型的部分固定在所述固定板上。

优选的，所述插针与所述卡接端的连接处设置有散热槽和凸块。

优选的，所述座体还包括多个连接块和连接柱，所述连接块和所述连接柱固定在所述座体的两端。

优选的，所述座体还包括插槽，所述夹持部通过所述插槽设置在所述座体上。

相比现有技术，本实用新型的有益效果在于：

本老化座设置有多个一一相对设置的卡接端和多个一一相对设置的插针，其中每一对卡接端均可以插接一个电子元件，每一对插针均可以电性连接正负极电源或者测试信号输出输入端。因此，本老化座可以安装大量的电子元件，而能一次性测试大量电子元件。

附图说明

图1为本实用新型的老化座的立体结构示意图；

图2为图1中A处的放大示意图；

图3为本实用新型的老化座另一视角的立体结构示意图；

图4为本实用新型的导电件的立体结构示意图；