[实用新型]测试电路和设备

权利要求书

1.一种测试电路，用于测试IGBT器件中集电极与发射极之间的击穿电压，其特征在于，所述测试电路包括：电压源和第一测试子电路，其中，

所述电压源的正极与第一待测IGBT器件的集电极电信号连接，所述电压源的负极接地；

所述第一待测IGBT器件连接于所述第一测试子电路内，所述第一待测IGBT器件的栅极与发射极短接；

所述第一测试子电路包括第一电流源，所述第一电流源的负极与所述第一待测IGBT器件的发射极电信号连接，所述第一电流源的正极接地。

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一测试子电路还包括第一可变电阻，所述第一可变电阻与所述第一电流源串联。

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，将所述第一待测IGBT器件的额定测试电压与额定测试电流的比值定义为第一额定电阻值，所述第一可变电阻的阻值和所述第一额定电阻值成正相关。

4.根据权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述第一可变电阻的阻值为所述第一额定电阻值的1/10。

5.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路还包括第二测试子电路，所述第二测试子电路与所述第一测试子电路并联；

所述电压源的正极与第二待测IGBT器件的集电极电信号连接，所述电压源的负极接地；

所述第二待测IGBT器件连接于所述第二测试子电路内，所述第二待测IGBT器件的栅极与发射极短接；

所述第二测试子电路包括第二电流源；所述第二电流源的负极与所述第二待测IGBT器件的发射极电信号连接，所述第二电流源的正极接地。

6.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述第二测试子电路还包括第二可变电阻，所述第二可变电阻与所述第二电流源串联。

7.根据权利要求5所述的测试电路，其特征在于，所述第二电流源为电压电流源，所述第二电流源通过所述电压电流源在电流源模式下工作以输出测试电流。

8.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述第一电流源满足以下条件：所述第一电流源在开启状态下两端的电位差的最大值不超过预设电压值，所述预设电压值小于或等于10V。

9.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述电压源为第一电压电流源，所述电压源通过所述第一电压电流源在电压源模式下工作以输出测试电压；所述第一电流源为第二电压电流源，所述第一电流源通过所述第二电压电流源在电流源模式下工作以输出测试电流；所述第一电压电流源输出的额定电压大于所述第二电压电流源输出的额定电压。

10.一种测试设备，其特征在于，包括根据权利要求1-9中任一项所述的测试电路。