[实用新型]LED半导体辉度检测机有效
申请号: | 202121677165.4 | 申请日: | 2021-07-22 |
公开(公告)号: | CN216449029U | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 柳圣昊 | 申请(专利权)人: | 苏州博测泰自动化设备有限公司 |
主分类号: | G01J1/04 | 分类号: | G01J1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215000 江苏省苏州市吴中区苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | led 半导体 检测 | ||
1.LED半导体辉度检测机,包括设备壳体(1),其特征在于:所述设备壳体(1)的内腔安装有驱动框(7),所述驱动框(7)的内腔固定连接有电机(13),所述电机(13)的输出端固定连接有螺杆(14),所述螺杆(14)的底部通过轴承与驱动框(7)的连接处活动连接,所述螺杆(14)的表面螺纹连接有螺块(15),所述螺块(15)的两侧均固定连接有传动杆(6),所述传动杆(6)远离螺块(15)的一侧固定连接有放置框(10),所述放置框(10)底部的两侧均固定连接有竖杆(11),所述竖杆(11)的底部固定连接有密封前板(5),所述设备壳体(1)的内腔安装有多个摄像头(8),所述设备壳体(1)的表面固定连接有显示屏(2),所述设备壳体(1)表面的底部安装有控制按键(3),所述设备壳体(1)内腔的顶部固定连接有辉度仪(20)。
2.根据权利要求1所述的LED半导体辉度检测机,其特征在于:所述设备壳体(1)的底部固定连接有支撑腿(4),所述支撑腿(4)的底部固定连接有防滑垫。
3.根据权利要求1所述的LED半导体辉度检测机,其特征在于:所述放置框(10)的两侧均开设有贯穿孔(9),所述驱动框(7)的表面开设有走线孔(17),所述贯穿孔(9)和走线孔(17)的内腔均固定连接有防护圈。
4.根据权利要求1所述的LED半导体辉度检测机,其特征在于:所述放置框(10)底部的两侧均固定连接有支撑杆(18),所述支撑杆(18)的底部固定连接有滑轮(19)。
5.根据权利要求1所述的LED半导体辉度检测机,其特征在于:所述驱动框(7)内腔的两侧均开设有与传动杆(6)配合使用的通槽(16),所述通槽(16)的宽度大于传动杆(6)的宽度。
6.根据权利要求1所述的LED半导体辉度检测机,其特征在于:所述密封前板(5)的表面固定连接有密封橡胶覆层(12),所述密封橡胶覆层(12)的厚度为1mm。
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