[实用新型]一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪有效

专利信息
申请号: 202121681802.5 申请日: 2021-07-23
公开(公告)号: CN215375686U 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 张徐俊 申请(专利权)人: 深圳市立诚威电子有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 梁炎芳
地址: 518000 广东省深圳市西乡*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 精密 电子 工程 抗干扰 效果 集成电路 测试仪
【权利要求书】:

1.一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,包括检测框(1),其特征在于:所述检测框(1)内腔的底部固定连接有举升框(12),所述举升框(12)内腔的底部固定连接有电机(17),所述电机(17)的输出端固定连接有螺杆(22),所述螺杆(22)的顶部通过轴承与举升框(12)活动连接,所述螺杆(22)的表面螺纹连接有螺块(18),所述螺块(18)的两侧均固定连接有移动板(19),所述移动板(19)的顶部固定连接有竖杆(13),所述竖杆(13)的顶部贯穿举升框(12)并固定连接有横板(10),所述横板(10)的顶部固定连接有检测壳体(5),所述检测壳体(5)顶部的两侧均固定连接有连接块(8),所述连接块(8)的顶部固定连接有密封板(7),所述密封板(7)的顶部固定连接有上限位板(6),所述检测框(1)和密封板(7)均包括有金属板(14)、铅板(15)和锡箔纸(16)。

2.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述检测框(1)的底部固定连接有底板(3),所述底板(3)底部的两侧均固定连接有支撑腿(4)。

3.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述检测框(1)内腔的两侧均固定连接有摄像头(9),所述检测框(1)的表面固定连接有与摄像头(9)配合使用的显示屏(2)。

4.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述检测框(1)的内腔安装有稳压模组(11),所述稳压模组(11)包括有稳压器和稳流器。

5.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述移动板(19)远离螺块(18)的一侧固定连接有滑块(20),所述举升框(12)内腔的两侧均开设有与滑块(20)配合使用的滑槽(21)。

6.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述检测框(1)内腔的底部开设有走线孔,且走线孔的内腔固定连接有防护圈。

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