[实用新型]一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪有效
申请号: | 202121681802.5 | 申请日: | 2021-07-23 |
公开(公告)号: | CN215375686U | 公开(公告)日: | 2021-12-31 |
发明(设计)人: | 张徐俊 | 申请(专利权)人: | 深圳市立诚威电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人: | 梁炎芳 |
地址: | 518000 广东省深圳市西乡*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 电子 工程 抗干扰 效果 集成电路 测试仪 | ||
1.一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,包括检测框(1),其特征在于:所述检测框(1)内腔的底部固定连接有举升框(12),所述举升框(12)内腔的底部固定连接有电机(17),所述电机(17)的输出端固定连接有螺杆(22),所述螺杆(22)的顶部通过轴承与举升框(12)活动连接,所述螺杆(22)的表面螺纹连接有螺块(18),所述螺块(18)的两侧均固定连接有移动板(19),所述移动板(19)的顶部固定连接有竖杆(13),所述竖杆(13)的顶部贯穿举升框(12)并固定连接有横板(10),所述横板(10)的顶部固定连接有检测壳体(5),所述检测壳体(5)顶部的两侧均固定连接有连接块(8),所述连接块(8)的顶部固定连接有密封板(7),所述密封板(7)的顶部固定连接有上限位板(6),所述检测框(1)和密封板(7)均包括有金属板(14)、铅板(15)和锡箔纸(16)。
2.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述检测框(1)的底部固定连接有底板(3),所述底板(3)底部的两侧均固定连接有支撑腿(4)。
3.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述检测框(1)内腔的两侧均固定连接有摄像头(9),所述检测框(1)的表面固定连接有与摄像头(9)配合使用的显示屏(2)。
4.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述检测框(1)的内腔安装有稳压模组(11),所述稳压模组(11)包括有稳压器和稳流器。
5.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述移动板(19)远离螺块(18)的一侧固定连接有滑块(20),所述举升框(12)内腔的两侧均开设有与滑块(20)配合使用的滑槽(21)。
6.根据权利要求1所述的一种精密电子工程用抗干扰效果好的集成电路测试仪,其特征在于:所述检测框(1)内腔的底部开设有走线孔,且走线孔的内腔固定连接有防护圈。
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