[实用新型]光学式材料检测装置及其侦测模块

权利要求书

1.一种光学式材料检测装置(1)，其特征在于，包含：

一侦测模块(10)，包含一材料入口(123a)及一光学侦测器(50)，其中该材料入口(123a)供一材料(20)进入，该光学侦测器(50)用于侦测该材料(20)的一第一外观信息；

一加热器(30)，用于对该材料(20)进行加热；

一温度传感器(40)，用于侦测该材料(20)的一温度变化量；以及

一材料状态监控器(60)，用于根据该温度变化量及该第一外观信息判断该材料(20)的状态。

2.根据权利要求1所述的光学式材料检测装置(1)，其特征在于，其中该温度传感器(40)是配置为当该材料(20)被持续加热一段预设期间时，侦测该温度变化量。

3.根据权利要求1所述的光学式材料检测装置(1)，其特征在于，其中该光学侦测器(50)是配置为当该材料(20)被加热至一第一默认温度时，侦测该第一外观信息。

4.根据权利要求3所述的光学式材料检测装置(1)，其特征在于，其中该光学侦测器(50)更配置为当该材料(20)由该第一默认温度改变至一第二默认温度时，侦测一第二外观信息，并且该材料状态监控器(60)更根据该温度变化量、该第一外观信息及该第二外观信息判断该材料(20)的状态。

5.根据权利要求4所述的光学式材料检测装置(1)，其特征在于，其中该第一默认温度改变至该第二默认温度的实现方式是透过持续移动该材料(20)进出该材料入口(123a)而实现。

6.根据权利要求1所述的光学式材料检测装置(1)，其特征在于，其中该侦测模块(10)更包含复数个转轮(124)，用于输送该材料(20)，部分该转轮(124)之间具有一间隔区域(128)，其中该材料(20)露出于该间隔区域(128)，且该光学侦测器(50)设置于邻近该间隔区域(128)。

7.根据权利要求1所述的光学式材料检测装置(1)，其特征在于，其中该侦测模块(10)包含一材料出口(123b)，且该材料出口(123b)连接一加热喉管(14)。

8.根据权利要求1所述的光学式材料检测装置(1)，其特征在于，其中更包含一内存(70)，用于储存复数个卷标编码(80)，其中每个卷标编码(80)对应一温度变化量范围及一外观信息，且每个卷标编码(80)代表一正常状态或一异常状态，并且该材料状态监控器(60)找出与该温度变化值及该第一外观信息相对应的一卷标编码(80)进行比对，并根据该卷标编码(80)判断该材料(20)的状态。

9.根据权利要求1所述的光学式材料检测装置(1)，其特征在于，其中该材料(20)是一线材，适用于一二维平面打印装置、一三维空间积层制造装置或一n维空间积层制造装置，其中n为大于3的正整数。

10.一种侦测模块(10)，其特征在于，用于一光学式材料检测装置(1)，包含:

一材料入口(123a)，用于供一材料(20)进入；

一光学侦测器(50)，用于侦测该材料(20)的一第一外观信息；

其中，该光学式材料检测装置(1)更包含一加热器(30)、一温度传感器(40)及一材料状态监控器(60)，该加热器(30)用于对该材料(20)进行加热，该温度传感器(40)用于侦测该材料(20)的一温度变化量，该材料状态监控器(60)用于根据该温度变化量及该第一外观信息判断该材料(20)的状态。