[实用新型]一种半导体绝缘测试治具有效
申请号: | 202121718538.8 | 申请日: | 2021-07-27 |
公开(公告)号: | CN215768862U | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 魏明宇;金飞 | 申请(专利权)人: | 徐州汉通电子科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/12;G01R1/04 |
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地址: | 221000 江苏省徐州市徐州经*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 半导体 绝缘 测试 | ||
本实用新型适用于半导体测试技术领域,提供了一种半导体绝缘测试治具,包括框体、探针、升降机构、夹持机构和调节机构,所述升降机构滑动安装于框体上,与所述夹持机构滑动连接,且所述升降机构工作时调节夹持机构的位置;所述夹持机构与框体侧壁滑动连接,用于对不同类型的半导体元件进行固定,以便快速更换元件;所述调节机构安装于框体的内壁上,用以调节探针的位置,本测试治具在半导体绝缘测试的过程中定位简单,能够快速完成多种半导体元件的更换工作,从而提高测试效率,并通过推动元件的移动方式替代探针的升降,能够有效避免测试过程中对元件造成的损坏。
技术领域
本实用新型属于半导体测试技术领域,尤其涉及一种半导体绝缘测试治具。
背景技术
半导体常温下的导电性能介于导体与绝缘体之间,在集成电路、消费电子、通讯系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用,对科技或经济发展具有重要意义。半导体元件在投入使用之前需要进行测试,目前的测试治具通常在抽拉过程中完成对元件的更换工作,探针下降与之接触进行测试,存在更换时间长测试时间相对短以及容易损坏元件的情况。
实用新型内容
本实用新型实施例的目的在于提供一种半导体绝缘测试治具,旨在解决现有的治具不便于快速更换半导体元件及测试过程中对元件造成损坏的技术问题。
本实用新型实施例是这样实现的,包括框体和探针,还包括:
升降机构,所述升降机构滑动安装于框体上,与所述夹持机构滑动连接,且所述升降机构工作时调节夹持机构的位置;
夹持机构,所述夹持机构与框体侧壁滑动连接,用于对不同类型的半导体元件进行固定,以便快速更换元件;以及
调节机构,所述调节机构安装于框体的内壁上,用以调节探针的位置。
优选地,所述升降机构包括驱动组件和执行组件;
所述驱动组件包括伸缩件、设置于伸缩件顶端的限位杆、以及与所述限位杆滑动连接的活动板;
所述伸缩件的一端与框体固定连接,另一端与安装架铰接,且所述安装架与限位杆铰接;
所述活动板转动安装于所述框体上,其侧面设置有齿并与执行组件啮合。
优选地,所述执行组件包括齿板;
所述齿板的底端与框体以及框体底部的支座在高度方向滑动连接;
所述齿板的顶端与夹持机构在水平方向滑动连接。
优选地,所述夹持机构包括传动轴、设置于传动轴上的齿轮一和齿轮二、与所述齿轮一啮合的L形板一、与所述齿轮二啮合的L形板二;
所述L形板一和L形板二上设置有导向槽,且L形板一和L形板二通过定位柱相连接;
所述L形板一和L形板二上安装有凸起板,凸起板相对的一侧设置有压力板;
所述L形板一和L形板二的侧面安装有导向杆,所述导向杆与齿板滑动连接,且框体的外壁在高度方向设置有供所述导向杆滑动的限位槽。
优选地,所述压力板上粘接有绝缘层,用于避免所述凸起板在靠拢时导电。
优选地,所述调节机构包括安装盘,
所述安装盘上设置有多个连接孔,其内安装有探针;
所述安装盘中部的凹槽内安装有磁极一,所述框体的内壁上位于磁极一两侧设置有磁性相反的磁极二。
本实用新型实施例提供的一种半导体绝缘测试治具,本测试治具在半导体绝缘测试的过程中定位简单,能够快速完成多种半导体元件的更换工作,从而提高测试效率,并通过推动元件的移动方式替代探针的升降,能够有效避免测试过程中对元件造成的损坏。
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