[实用新型]一种辅助测量转轴偏摆度的治具有效

专利信息
申请号: 202121760746.4 申请日: 2021-07-30
公开(公告)号: CN215177666U 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 沈晓松;蔡项勉 申请(专利权)人: 厦门想成科技有限公司
主分类号: G01B21/22 分类号: G01B21/22
代理公司: 厦门佰业知识产权代理事务所(普通合伙) 35243 代理人: 林慕超
地址: 361000 福建省厦门市*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 辅助 测量 转轴 偏摆度
【权利要求书】:

1.一种辅助测量转轴偏摆度的治具,其特征在于:包括有底座和设置在所述底座上的两个支撑块,所述支撑块可拆卸固定在所述底座上,所述支撑块的一侧面在靠近上边缘的位置垂直向外延伸有若干根第一固定轴,所述第一固定轴固定有第一滚轮,所述支撑块的另一侧面在靠近上边缘的位置垂直向外延伸有若干根第二固定轴,所述第二固定轴固定有第二滚轮,所述第一固定轴之间的距离和所述第二固定轴之间的距离不同,且所述第一滚轮与所述第二滚轮直径大小不同,所述第一滚轮和所述第二滚轮配合可拆卸的所述支撑块用于放置测试不同尺寸的轴。

2.根据权利要求1所述的一种辅助测量转轴偏摆度的治具,其特征在于:所述第一固定轴对称面相对应的位置垂直向外延伸有若干根第三固定轴,所述第三固定轴固定所述第一滚轮,所述第二固定轴对称面相对应的位置垂直向外延伸有若干根第四固定轴,所述第四固定轴固定所述第二滚轮。

3.根据权利要求1所述的一种辅助测量转轴偏摆度的治具,其特征在于:所述支撑块的上端面开设有两个贯穿两侧面且互相垂直的第一凹槽和第二凹槽,同一侧面的两个所述第一滚轮相对于所述第一凹槽呈对称设置,同一侧面的两个所述第二滚轮相对于所述第二凹槽呈对称设置。

4.根据权利要求3所述的一种辅助测量转轴偏摆度的治具,其特征在于:所述第一凹槽与所述第二凹槽截面呈V字形,且所述第一凹槽与所述第二凹槽的尺寸大小不同,配合所述第一滚轮和第二滚轮放置测试不同尺寸的轴。

5.根据权利要求1所述的一种辅助测量转轴偏摆度的治具,其特征在于:两个所述支撑块呈同一直线设置,所述支撑块下侧四周向外延伸一延伸部,所述延伸部开设有竖直向下的通孔。

6.根据权利要求5所述的一种辅助测量转轴偏摆度的治具,其特征在于:所述底座在所述通孔相对应的位置设置有第一螺纹孔,螺栓穿过所述通孔与所述第一螺纹孔配合固定。

7.根据权利要求1所述的一种辅助测量转轴偏摆度的治具,其特征在于:所述底座在两个所述支撑块之间设置有第二螺纹孔,用于调整固定两所述支撑块的距离。

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