[实用新型]显示基板及显示装置

权利要求书

1.一种显示基板，其特征在于，包括：

多个子像素，所述多个子像素划分为多行子像素行；

多条扫描线，所述扫描线包括沿第一方向延伸的至少部分；所述扫描线与对应的子像素行中的各子像素分别耦接；

多条扫描引线，所述扫描引线与对应的所述扫描线耦接；所述多条扫描线引线包括多条第一扫描引线和多条第二扫描引线，所述第一扫描引线与所述第二扫描引线交替设置；所述多条第一扫描引线和多条第二扫描引线均与对应的扫描线的第一端耦接；

第一测试电路，所述第一测试电路分别与各所述第一扫描引线耦接；所述第一测试电路用于向各所述第一扫描引线提供第一测试信号；

第二测试电路，所述第二测试电路分别与各所述第二扫描引线耦接；所述第二测试电路用于向各所述第二扫描引线提供第二测试信号。

2.根据权利要求1所述的显示基板，其特征在于，所述显示基板还包括第一控制信号输入端，第一测试信号输入端和第二测试信号输入端；

所述第一测试电路还分别与所述第一控制信号输入端和所述第一测试信号输入端耦接；所述第一测试电路用于在所述第一控制信号输入端输入的第一控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号输入端输入的第一测试信号写入至各所述第一扫描引线；

所述第二测试电路还分别与所述第一控制信号输入端和所述第二测试信号输入端耦接；所述第二测试电路用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号输入端输入的第二测试信号写入至各所述第二扫描引线。

3.根据权利要求2所述的显示基板，其特征在于，

所述多条扫描引线还包括多条第三扫描引线和多条第四扫描引线，所述第三扫描引线与所述第四扫描引线交替设置；所述多条第三扫描引线和多条第四扫描引线均与对应的扫描线的第二端耦接；

所述第一测试电路还分别与各所述第三扫描引线耦接；所述第一测试电路还用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第一测试信号写入至各所述第三扫描引线；

所述第二测试电路还分别与各所述第四扫描引线耦接；所述第二测试电路还用于在所述第一控制信号的控制下，控制是否将所述第二测试信号写入至各所述第四扫描引线。

4.根据权利要求3所述的显示基板，其特征在于，所述第一测试电路包括多个第一晶体管，所述多个第一晶体管的栅极均与所述第一控制信号输入端耦接，所述多个第一晶体管的第一极均与所述第一测试信号输入端耦接，所述多个第一晶体管中的第一部分第一晶体管的第二极与各所述第一扫描引线一一对应耦接，所述多个第一晶体管中的第二部分第一晶体管的第二极与各所述第三扫描引线一一对应耦接；

所述第二测试电路包括多个第二晶体管，所述多个第二晶体管的栅极均与所述第一控制信号输入端耦接，所述多个第二晶体管的第一极均与所述第二测试信号输入端耦接，所述多个第二晶体管中的第一部分第二晶体管的第二极与各所述第二扫描引线一一对应耦接，所述多个第二晶体管中的第二部分第二晶体管的第二极与各所述第四扫描引线一一对应耦接。

5.根据权利要求4所述的显示基板，其特征在于，所述第一晶体管包括第一有源层，所述第二晶体管包括第二有源层；

所述多个第一晶体管包括的至少部分第一有源层沿所述第一方向排列；

所述多个第二晶体管包括的至少部分第二有源层沿所述第一方向排列；

所述多个第一有源层与所述多个第二有源层沿第二方向排列，所述第二方向与所述第一方向相交；所述多个第一晶体管的栅极和所述多个第二晶体管的栅极相耦接。