[实用新型]一种用于测量薄板的显微维氏硬度装置

说明书

本实用新型涉及显微维氏硬度计防尘保护装置领域，且公开了一种用于测量薄板的显微维氏硬度装置，解决了现今的显微维氏硬度计清理灰尘较为麻烦，影响仪器的使用的问题，其包括显微维氏硬度计本体，显微维氏硬度计本体的外部设置有防尘箱，防尘箱的一侧通过竖直方向的转轴铰接有箱门，箱门通过卡扣与防尘箱的扣合连接，防尘箱包括箱体框架、顶板以及位于防尘箱左右两侧以及背面的可滑动抽出的多个侧板，箱体框架的底部活动安装有底板，底板与箱体框架之间设置有可使底板前后滑动的滑动件，本实用新型，具有防尘保护，便于清理，便于携带的特点。

技术领域

本实用新型属于显微维氏硬度计防尘保护装置领域，具体为一种用于测量薄板的显微维氏硬度装置。

背景技术

显微维氏硬度最早应用于20世纪30年代，这种检测方法除用于产品的工艺检验外，同时在材料科学与工程的研究中也得到了广泛的应用。成为金属学、金相学主斋最常用的试验方法之一。

显微维氏硬度计的主要工作原理为使用规定的试验力，将顶部两相对面为136度的金刚石正四棱锥体压头压入试样表面，保持规定的时间后撤除试验力，测量试样表面压痕对角线长度。

但是显微维氏硬度计比较精密，而显微维氏硬度计在长期不使用时表面容易沾染灰尘，由于其外形的原因并不方便清理，灰尘沾染到试压台或压头上，影响仪器的使用。

实用新型内容

针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本实用新型提供一种用于测量薄板的显微维氏硬度装置，有效的解决了现今的显微维氏硬度计清理灰尘较为麻烦，影响仪器的使用的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于测量薄板的显微维氏硬度装置，包括显微维氏硬度计本体，所述显微维氏硬度计本体的外部设置有防尘箱，所述防尘箱的一侧通过竖直方向的转轴铰接有箱门，所述箱门通过卡扣与防尘箱的扣合连接，所述防尘箱包括箱体框架、顶板以及位于防尘箱左右两侧以及背面的可滑动抽出的多个侧板，所述箱体框架的底部活动安装有底板，所述底板与箱体框架之间设置有可使底板前后滑动的滑动件，所述显微维氏硬度计本体放置在底板上。

进一步的，所述箱体框架安装有侧板的侧面的内周侧均设有开口朝上且配合侧板使侧板卡合滑动的侧板卡槽，多个所述侧板的顶部位于其对应的侧板卡槽的开口处均设有限位块。

进一步的，所述滑动件包括抽屉滑轨，所述抽屉滑轨对称安装于底板的左右两侧，其另一侧对称安装于箱体框架底部的内周侧。

进一步的，所述底板的正面与箱门的背面贴合。

进一步的，所述防尘箱的顶部安装有提手。

进一步的，位于所述箱体框架背部的侧板的下方开设有通孔。

进一步的，所述侧板由透明塑料制成。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1)、本实用新型通过为显微维氏硬度计本体设置有由侧板以及箱门组成的防尘箱，防尘箱的底部为通过滑动件带有滑动功能的底板，使得显微维氏硬度计在不使用时可以收纳到防尘箱内，减少表面沾染的灰尘，同时防尘箱还具有一定的保护效果。

2)、本实用新型通过在防尘箱的侧面设置侧板卡槽以及配合其使用的侧板，使得防尘箱的侧板可以拆卸，便于清洗；在防尘箱的顶部设置有提手，便于对防尘箱以及显微维氏硬度计本体的搬运。

附图说明

附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中：

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的正面开合状态下的结构示意图；

图3为本实用新型的俯视结构示意图；