[实用新型]一种光收发驱动芯片电告警测试系统

说明书

本实用新型公开了一种光收发驱动芯片电告警测试系统，包括上位机、误码仪、程控电衰减器、光收发驱动芯片和IIC通讯模块，所述误码仪至少包括一路模拟信号输出端口，并通过模拟信号输出端口和程控电衰减器的输入端电性连接，所述程控电衰减器至少包括一路可调输出端口，并通过可调输出端口和光收发驱动芯片的输入端电性连接，所述IIC通讯模块和光收发驱动芯片的数字通讯接口电性连接。本实用新型中，通过一次搭建测试环境，可实现光收发驱动芯片电告警功能繁复的测试需求，降低人力消耗以及测试设备的损耗。

技术领域

本实用新型涉及光收发芯片测试领域，尤其涉及一种光收发驱动芯片电告警测试系统。

背景技术

5G作为第五代移动通讯网络，具有高速、低延迟和大带宽优点，通信芯片在移动通信、无线Internet和无线数据传输业的发展，三网融合的大趋势，尤其是支持5G的通讯芯片，将成为全球半导体芯片业最大的应用市场。

国产光芯片的缺失成为制约通信光电子器件产业发展的关键，尤其是在高端通讯芯片这块，研发能力和测试能力相对欠缺。光通讯芯片功能复杂，测试项目繁多，测试条件及指标屡屡挑战设备的极限。

在光收发驱动芯片告警功能测试方面，目前都是采用误码仪输出连接固定式的电衰减器相结合的方式进行测试，这种方式需要操作人员预先安装一个衰减倍率较大的固定电衰减器，然后修改误码仪的输出幅度，确认当前固定电衰减器下是否能同时满足告解警，如果不能，需要再次更换另一种倍率的固定电衰减器，如果能满足，则操作人员需要手动从大到小细调误码仪的输出幅度，同时手动读取光收发驱动芯片告警状态位信息，以判断此时芯片是否出现告警，若没有告警，则继续调小误码仪输出幅度，直至出现告警为止；解警测试则是从告警值开始调大误码仪输出幅度，直至出现解警为止。

这种测试方法需要频繁地更换固定式的电衰减器，非常容易造成仪器接口及测试电缆的损坏，而且人工调节误码仪输出，效率低，操作失误概率较大。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种光收发驱动芯片电告警测试系统。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种光收发驱动芯片电告警测试系统，包括上位机、误码仪、程控电衰减器、光收发驱动芯片和IIC通讯模块；

所述误码仪至少包括一路模拟信号输出端口，并通过模拟信号输出端口和程控电衰减器的输入端电性连接；

所述程控电衰减器至少包括一路可调输出端口，并通过可调输出端口和光收发驱动芯片的输入端电性连接；

所述IIC通讯模块和光收发驱动芯片的数字通讯接口电性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述程控电衰减器选用可以调节衰减倍率的类型。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述误码仪上设置有RJ45接口、GPIB接口或者USB接口中的一种，并通过该接口和上位机电性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述程控电衰减器上设置有RJ45接口、GPIB接口或者USB接口中的一种，并通过该接口和上位机电性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述IIC通讯模块上设置有RJ45接口、GPIB接口或者USB接口中的一种，并通过该接口和上位机电性连接。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述上位机具有RJ45接口、GPIB接口或者USB接口。

本实用新型具有如下有益效果：