[实用新型]测试针

说明书

本实用新型公开了一种测试针，包括检测部、接触部以及弹性部，所述弹性部包括若干倾斜段和若干弯曲段，若干倾斜段和若干弯曲段彼此首尾连接成可以沿长度方向伸缩的蜿蜒形状，所述倾斜段和弯曲段中部开设条形槽，所述条形槽沿所述倾斜段和弯曲段的长度方向延伸，在所述倾斜段的条形槽的中部形成连接点，所述连接点连接条形槽的两侧。本实用新型提供的测试针，弹性好，使用寿命长。

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，具体地说，涉及一种测试针。

背景技术

测试针用于芯片与连接器的检测，测试时将多个测试针的针尖抵靠到被测芯片上，根据导通与否得到检测结果。测试针在接触到被测芯片时，由于自身是薄铜片冲压而成，会在测试针的长度方向上受压变形，从而影响检测结果。

申请人此前公开一种测试针，包括检测部、接触部以及弹性部，弹性部包括若干倾斜段和若干弯曲段，若干倾斜段和若干弯曲段彼此首尾连接成可以沿长度方向伸缩的蜿蜒形状，其中，倾斜段上开设有条形槽，降低测试针长度方向的刚度，避免压坏芯片或连接器。实践中发现依然存在弹性不足和使用寿命短的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试针，弹性好，使用寿命长。

本实用新型公开的测试针所采用的技术方案是:

一种测试针，包括检测部、接触部以及弹性部，所述弹性部包括若干倾斜段和若干弯曲段，若干倾斜段和若干弯曲段彼此首尾连接成可以沿长度方向伸缩的蜿蜒形状，所述倾斜段和弯曲段中部开设条形槽，所述条形槽沿所述倾斜段和弯曲段的长度方向延伸，在所述倾斜段的条形槽的中部形成连接点，所述连接点连接条形槽的两侧。

作为优选方案，所述条形槽为镂空槽。

作为优选方案，所述倾斜段在无荷载状态下与水平面倾斜。

作为优选方案，任一所述弯曲段连接两倾斜段，其中，两所述倾斜段之间的间距自靠近所述弯曲段一端向另一端逐渐缩小。

作为优选方案，若干所述弯曲段分为连接倾斜段始端的若干第一弯曲段，以及连接倾斜段末端的若干第二弯曲段，若干第一弯曲段和若干第二弯曲段分设在测试针中心线的两侧；其中，若干所述第一弯曲段的顶点的连线与测试针的中心线平行，若干所述第二弯曲段的顶点的连线与测试针的中心线平行。

作为优选方案，所述接触部连接在弹性部一端，所述接触部的顶面为平面，所述接触部的顶面中间开设缺口。

作为优选方案，所述接触部连接在弹性部一端，所述检测部连接在弹性部相对另一端，所述检测部底面具有一向下延伸的针部。

作为优选方案，在所述弯曲段的条形槽的中部形成第二连接点。

本实用新型公开的测试针的有益效果是：通过在倾斜段和弯曲段中部开设条形槽，条形槽沿倾斜段和弯曲段的长度方向延伸，从而降低了弹性部的刚性。同时在倾斜段的条形槽的中部形成连接点，通过连接点连接条形槽的两侧，增加了其强度与弹性，提高了使用寿命。

附图说明

图1是本实用新型测试针的结构示意图。

图2是本实用新型测试针的另一结构示意图。

具体实施方式

下面结合具体实施例和说明书附图对本实用新型做进一步阐述和说明:

请参考图1，一种测试针包括检测部10、接触部20以及弹性部30。

所述弹性部30包括若干倾斜段31和若干弯曲段32，若干倾斜段31和若干弯曲段32彼此首尾连接成可以沿长度方向伸缩的蜿蜒形状。所述倾斜段31和弯曲段32中部开设条形槽33，所述条形槽33沿所述倾斜段31和弯曲段32的长度方向延伸，在所述倾斜段31的条形槽33的中部形成连接点34，所述连接点34连接条形槽33的两侧。