[实用新型]一种集成电路制程布局可靠性的测试装置

说明书

本实用新型属于集成电路检测技术领域，且公开了一种集成电路制程布局可靠性的测试装置，包括放置台，所述放置台的顶部开设有放置槽，所述放置槽的内壁设置有限位板，所述放置槽的顶部开设有底槽，所述放置台的内部开设有导电内腔，所述导电内腔的内部固定安装有一号导电柱和二号导电柱，所述一号导电柱和二号导电柱的外表面分别活动套接有一号滑块和二号滑块，所述一号滑块和二号滑块的底部均固定连接有导电轻质弹簧。本实用新型通过使得一号接线和二号接线在接入测试电路后接头可与集成电路板的针脚接触并形成通路，而一号滑块和二号滑块则能通过移动来适配不同类型针脚的集成电路板，具有适用性强的优点。

技术领域

本实用新型属于集成电路检测技术领域，具体是一种集成电路制程布局可靠性的测试装置。

背景技术

集成电路指的是采用一定的工艺，将电路中所需的晶体管、电阻和电容等原件及布线连在一起形成通路的一种电子器件，一般制作在一小块或几小块半导体晶片，高度集成化，而集成电路在成型后需要对其进行制成布局的可靠性检测，即接通电路并连入测试电路然后进行检测。

目前，集成电路制程布局可靠性的测试装置的连接模块一般为固定的，通过连接模块的连接件与集成电路板上的针脚连接并通电，由于连接模块固定，使得检测装置只能检测特定的集成电路，缺乏适用性；同时，一旦电路异常并电流变大便会烧坏电路，而现有的检测装置缺乏相应的电路保护措施，具有很大的危险性。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对以上问题，本实用新型提供了一种集成电路制程布局可靠性的测试装置，具有适用性强和保护效果好的优点。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路制程布局可靠性的测试装置，包括放置台，所述放置台的顶部开设有放置槽，所述放置槽的内壁设置有限位板，所述放置槽的顶部开设有底槽，所述放置台的内部开设有导电内腔，所述导电内腔的内部固定安装有一号导电柱和二号导电柱，所述一号导电柱和二号导电柱的外表面分别活动套接有一号滑块和二号滑块，所述一号滑块和二号滑块的底部均固定连接有导电轻质弹簧，所述导电轻质弹簧的另一端固定连接有连接片和接头，所述一号导电柱和二号导电柱另一端分别固定连接有一号接线和二号接线。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述放置槽的正面开设有两个通槽，所述二号滑块和一号滑块分别位于上下两个通槽中，所述放置台内壁的前后端均固定套接有套圈，所述一号导电柱和二号导电柱均通过套圈固定安装在放置台的内壁，所述一号滑块和二号滑块底部的左侧均固定安装有加强柱，所述一号滑块和二号滑块底部的右侧均固定安装带动柱，所述带动柱的另一端贯穿并延伸至底槽的内部并固定连接有磁铁，所述连接片位于加强柱的下方，所述接头固定连接在连接片的底部，所述导电轻质弹簧的两端分别与一号滑块和连接片固定连接，一号滑块活动套接在一号导电柱的外表面，二号滑块活动套接在二号导电柱的外表面，从而使得一号滑块与二号滑块分别和一号导电柱和二号导电柱电性连接从而形成两个电极，在一号接线和二号接线分别接入测试电路后，可拨动二号滑块与一号滑块并带动连接片和接头移动，将接头移动至集成电路的针脚处，从而实现不同种类集成电路的适配。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述限位板的数量为两个且分别位于放置槽的左右两壁，所述限位板由海绵块制成，集成电路板沿着放置槽的正面卡接进去并向两侧挤压限位板，使得限位板发生形变，一方面为集成电路板提供限位作用，同时，海绵柔软的特性也能为集成电路板提供一定的防护避免其受到损坏。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述一号导电柱和二号导电柱均由石墨块制成，所述二号导电柱位于一号导电柱的上方，一号滑块和二号滑块负责连接连接片、接头和一号导电柱以及二号导电柱，一号导电柱和二号导电柱可以导电，为了适应一号滑块和二号滑块灵活移动的需求，一号导电柱和二号导电柱有石墨块制成，从而避免了线缆缠绕移动的烦恼。