[实用新型]一种方便拆装的风冷式间歇工作寿命测试机

说明书

本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，尤其涉及一种方便拆装的风冷式间歇工作寿命测试机，其包括机箱、测试系统及冷却系统，机箱内有测试腔、控制腔及冷却腔，测试腔位于冷却腔的上方且二者之间通过过滤网板隔开，测试腔内固定安装有多对纵向导轨，测试系统包括多个安装板及多个测试主板，每个安装板滑动的插装于相应的导轨上，多个测试主板分别固装于安装板，每个测试主板上固设有测试插座，冷却腔内固装有冷却风机，冷却风机的出风口位于过滤网板的下方。本实用新型提供的装置结构简单，成本低，被测元件拆装方便，能同时进行多个元件测试且测试效率比较高。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试设备技术领域，尤其涉及一种方便拆装的风冷式间歇工作寿命测试机。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域已得到广泛应用。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，其在投入使用前需要用寿命测试设备进行不同温度、不同电流下的寿命进行测试。传统的寿命测试设备一般都是将安装板固定安装在箱体的底板上，然后将测试主板及被测导体集成在半导体安装座上，再将半导体安装座通过连接结构安装到底板上，对导体通入电流后，通过探头对导体不同电流，不同温度下的寿命进行测试。这种结构，导体安装座的拆装比较繁琐，并且同时完成测试的导体数量较少，需要进行不同温度下的寿命测试时，等待时间较长，导致最后测试效率比较低。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供结构简单，成本低，被测元件拆装方便，能同时进行多个元件测试且测试效率比较高的一种方便拆装的风冷式间歇工作寿命测试机。

本实用新型是通过以下技术方案予以实现：

一种方便拆装的风冷式间歇工作寿命测试机，其包括机箱、测试系统及冷却系统，所述机箱内有测试腔、控制腔及冷却腔，所述测试腔位于冷却腔的上方且二者之间通过过滤网板隔开，所述控制腔位于测试腔的一侧，所述测试腔内固定安装有多对纵向导轨，测试系统包括多个安装板及多个测试主板，每个所述安装板滑动的插装于相应的导轨上，多个所述测试主板分别固定安装于安装板，每个所述测试主板上固定设有测试插座，所述冷却腔内固定安装有冷却风机，冷却风机的出风口位于过滤网板的下方。

进一步，安装板的外侧面上固定安装有拉手。

优化的，冷却风机的出风口处安装有风管，过滤网板的下方固定安装有斗形集风罩，所述集风罩底部设有与风管连通的集风罩进风口，集风罩的顶部开口将过滤网板包围，集风罩内在靠近顶部开口处固定安装有导风板，所述导风板上开设有多个出风孔。

进一步，安装板内部设有冷水腔，冷却板外侧面上开设有进水孔及回水孔，进水孔处安装有与冷却水箱出水口相连通的给水软管，回水孔处安装有与冷却水箱回水口相连通的回水软管。

进一步，冷水腔内固定安装有多块扰流板。

本实用新型的有益效果

本实用新型提供的一种方便拆装的风冷式间歇工作寿命测试机，具有如下优点：

1.结构简单，成本低。

2.冷却效果好，且能快速达到所需温度。

3.能够同时对多个导体进行测试。

4.导体装卸方便，测试效率比较高。

附图说明

图1是本实用新型主视结构示意；

图中1.冷却腔，2.冷却风机，3.集风罩，4.出风孔,5.导风板,6.过滤网板，7.测试腔，8.测试主板，9.导体，10.测试插座,11.导轨，12.风管，13.控制腔，14.给水软管,15.回水软管，16.冷却水箱,17.进水孔，18.拉手，19.安装板,20.回水孔，21.扰流板。

具体实施方式