[实用新型]一种压触式测试工装

说明书

本实用新型涉及一种压触式测试工装，包括测试机构：与测试设备电性连接，且测试机构设有至少两个触点，触点的数量与待测电子元件的端口数量适配；第一板体，设有用于定位待测电子元件的载片台，第一板体相对于测试机构活动；弹性件，用于带动第一板体与待测电子元件靠近测试机构，以实现待测电子元件的端口与触点抵接。其只需要测试人员将测试设备的探针与同类型电子元件的端口对齐一次，即可方便地对大量电子元件进行测试；此外只需要改变测试机构触点的数量与位置，与环形器、隔离器、陶瓷滤波器等不同端口数量的电子元件适配，可以适用于对不同电子元件进行测试。

技术领域

本实用新型涉及电子元件测试的领域，尤其涉及一种压触式测试工装。

背景技术

在对环形器、隔离器、陶瓷滤波器等电子元件进行测试时，需要将测试设备的探针与这些电子元件的端口连接，以完成对电子元件的测试工作。

1、由于不同电子元件的端口数量不同，同一个测试设备难以适用于对不同的电子元件进行测试。

2、由于电子元件的端口较小，对大量电子元件进行测试时，需要将测试设备的探针与各个电子元件的端口依次对齐连接，操作繁琐，不便于对大量电子元件进行测试。

实用新型内容

针对上述现有技术的不足，本实用新型的目的是提供一种压触式测试工装，以解决现有技术中的一个或多个问题。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种压触式测试工装，包括测试机构：与测试设备电性连接，且所述测试机构设有至少两个触点，所述触点的数量与待测电子元件的端口数量适配；

第一板体，设有用于定位待测电子元件的载片台，所述第一板体相对于所述测试机构活动；

弹性件，用于带动所述第一板体与待测电子元件靠近所述测试机构，以实现所述待测电子元件的端口与所述触点抵接，当所述待测电子元件的端口与所述触点抵接时，所述待测电子元件、所述测试机构与所述测试设备之间形成回路。

进一步的，还包括第二板体，所述测试机构、所述第一板体以及所述弹性件均设置在所述第二板体上，所述第一板体与所述第二板体滑动配合，所述弹性件用于驱动所述第一板体朝向靠近所述测试机构的方向滑移。

进一步的，所述第二板体转动连接有把手，所述把手与所述第一板体相抵，以在所述把手摆动时，带动所述第一板体滑移。

进一步的，所述测试机构包括滑移组件和至少两个测试模块，所述滑移组件设置在所述第二板体上，每个所述测试模块设有至少一个触点，所述测试模块可拆卸连接在所述滑移组件，所述滑移组件用于供所述测试模块在垂直于所述第一板体滑移轴线的平面内滑移。

进一步的，所述滑移组件包括第一滑轨、第二滑轨和滑块，所述第一滑轨设置在所述第二板体上，所述第二滑轨滑动架设在所述第一滑轨上，所述滑块滑动架设在所述第二滑轨上，所述第二滑轨与所述滑块的滑移轴线互相垂直，且均垂直于所述第一板体的滑移轴线。

进一步的，所述第二板体上转动设有螺杆，所述螺杆与所述第二滑轨螺纹配合。

进一步的，所述第二滑轨螺纹连接有第一螺栓，所述第一螺栓的螺纹端与所述第一滑轨相抵；

所述滑块上螺纹连接有第二螺栓，所述第二螺栓的螺纹端与所述第二滑轨相抵。

进一步的，所述测试模块均包括至少一射频同轴电缆和SMA连接器，所述触点为射频同轴电缆一端的引针，所述SMA连接器与所述射频同轴电缆另一端的引针连接，所述SMA连接器用于连接测试设备。

进一步的，所述测试模块包括可拆卸连接的第一部分与第二部分，所述第一部分和第二部分互相朝向的侧面均开设有用于嵌设所述射频同轴电缆的凹槽。