[实用新型]一种基于STM32单片机的热敏电阻动态特性测量装置有效

专利信息
申请号: 202122152543.3 申请日: 2021-09-07
公开(公告)号: CN215374298U 公开(公告)日: 2021-12-31
发明(设计)人: 韦宁燕;韦洪浪;吴明林;杨达莉 申请(专利权)人: 桂林理工大学博文管理学院
主分类号: G01K15/00 分类号: G01K15/00
代理公司: 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 代理人: 霍从芳
地址: 541006 广西壮族自*** 国省代码: 广西;45
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 stm32 单片机 热敏电阻 动态 特性 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种基于STM32单片机的热敏电阻动态特性测量装置,其特征在于:包括测量箱(1),所述测量箱(1)包括绝热层(2)、绝缘上盖(14),所述绝热层(2)的内部中间固定安设有支撑柱(6),所述支撑柱(6)的顶端固定连接有托盘(7),所述托盘(7)的上侧安设有夹持结构(8),所述夹持结构(8)包括限位块(801)、弹簧条(802)、滑动槽(803)、活动夹板(804)、固定挡板(805),所述夹持结构(8)的中部夹持有热敏电阻(15),所述热敏电阻(15)通过导线(9)连接电流表(10),所述导线(9)还分别连接可控电源(11)、开关(12)、STM32单片机(13),所述测量箱(1)的内仓注有导热油(5),所述测量箱(1)的内还分别安设有电加热丝(3)、温度传感器(4),所述测量箱(1)的两侧均安设有搅拌装置(16)。

2.根据权利要求1所述的一种基于STM32单片机的热敏电阻动态特性测量装置,其特征在于:所述绝缘上盖(14)的两边底端设有凸块(141),所述绝热层(2)与绝缘上盖(14)对应两侧顶端开设与凸块(141)拼合的凹槽。

3.根据权利要求1所述的一种基于STM32单片机的热敏电阻动态特性测量装置,其特征在于:所述电加热丝(3)与温度传感器(4)的个数均有两个,分别设置在支撑柱(6)的两侧。

4.根据权利要求1所述的一种基于STM32单片机的热敏电阻动态特性测量装置,其特征在于:所述搅拌装置(16)包括电机及搅拌叶片,搅拌叶片安设在测量箱(1)的内侧。

5.根据权利要求1所述的一种基于STM32单片机的热敏电阻动态特性测量装置,其特征在于:所述固定挡板(805)与托盘(7)固定连接,所述滑动槽(803)与托盘(7)固定连接,所述活动夹板(804)的底部两端卡固两滑动槽(803)内,且活动夹板(804)底部两端设置有滑块,所述滑动槽(803)的两端均设置有限位块(801),所述固定挡板(805)与活动夹板(804)之间通过弹簧条(802)连接,所述弹簧条(802)的个数为两个。

6.根据权利要求1所述的一种基于STM32单片机的热敏电阻动态特性测量装置,其特征在于:所述STM32单片机(13)包括存储卡、显示屏。

7.根据权利要求1所述的一种基于STM32单片机的热敏电阻动态特性测量装置,其特征在于:所述电加热丝(3)、温度传感器(4)、热敏电阻(15)、电流表(10)、可控电源(11)、开关(12)、搅拌装置(16)均与STM32单片机电气连接。

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