[实用新型]一种激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统

说明书

本实用新型涉及样品光学检测领域，具体地说是一种激发波长可调谐微区荧光光谱探测系统，其中单色仪、快门、反射式物镜一、被测样品、反射式物镜二、可移动分束片一、高通滤波片、聚焦镜、可移动分束片二和传光光纤端头依次呈一线排列，显微成像时，白光经过可移动分束片一与反射式物镜二照亮被测样品，使被测样品在成像相机上成像，荧光探测时，可移动分束片一与可移动分束片二移出系统，氙灯经单色仪出射的激发光激发被测样品，被测样品出射的荧光经聚焦镜聚焦于传光光纤端头实现荧光采集。本实用新型通过单色仪来实现激发光源的波长调谐，通过显微成像来实现被测样品微区荧光测量，可以实现对固体样品特别是高压模块样品和低温样品的微区荧光探测。

技术领域

本实用新型涉及样品光学检测领域，具体地说是激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统。

背景技术

荧光光谱测量系统是利用激发光源激发样品分子特征谱段后，收集齐辐射的荧光光强的过程，对荧光光谱的测量可以辅助分析材料的发光特性。

荧光光谱的测量方法为激发光源激发样品特征谱段，样品辐射荧光，利用光谱仪对荧光进行收集与光谱显示。

在荧光光谱测量过程中，激发光源可以为氙灯或激光光源，当利用氙灯进行激发时，由于氙灯不是完美的点光源，在聚焦时无法使焦点直径更小而无法对被测样品进行显微原位测量，从而无法应用于固体样品，当利用激光光源进行激发时，由于激光光源波长的单一性而无法测量荧光光强与激发波长的依赖性。

对于高压样品或低温样品，由于其样品分布无法实现完全均匀，在重复试验中希望可以对被测样品进行原位测量，即多次测量过程中可以获得样品相同位置的荧光光谱，同时，又希望可以改变激发波长从而获得荧光光强与激发波长之间的相关性，在目前的报道成果中还没有能同时满足以上要求的。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统，在测量前利用显微成像实现对样品区的显微成像与对焦，并可以实现对高压模块以及低温样品的微区原位荧光光谱测量。

本实用新型为实现上述目的所采用的技术方案是：激发波长可调谐微区荧光光谱探测系统，包括氙灯、单色仪、快门、反射式物镜一、反射式物镜二、可移动分束片一、高通滤波片、聚焦镜一、可移动分束片二、光谱采集系统和显微成像系统；

其中，单色仪、快门、反射式物镜一、被测样品、反射式物镜二、可移动分束片、高通滤波片、聚焦镜一、可移动分束片二依次呈线性排列；

所述氙灯设于单色仪入口处；所述反射式物镜一、反射式物镜二之间设有用于放置被测样品的空间；

所述可移动分束片二的透射光路上设有光谱采集系统，反射光路上设有显微成像系统；

所述可移动分束片一的入射光路上依次设有白光光源和聚焦镜二，所述可移动分束片一的反射光路与线性排列方向相反。

对被测样品进行显微成像时，可移动分束片一位于反射式物镜一和高通滤波片之间，可移动分束片二位于聚焦镜一和光谱采集系统的传光光纤端头之间；白光光源发出的白光依次经过聚焦镜二、可移动分束片一和反射式物镜二照亮被测样品，使被测样品依次经过反射式物镜、可移动分束片、高通滤波片以及聚焦镜后在显微成像系统中成像。

对被测样品进行荧光光谱测量时，可移动分束片一与可移动分束片二移出线性排列，氙灯发出的激发光经单色仪分光后的光束作为激发光，经反射式物镜一聚焦于被测样品上，使被测样品受激发后辐射荧光，依次经反射式物镜二、高通滤波片、聚焦镜聚焦至光谱采集系统。

所述可移动分束片一与可移动分束片二分别设于二维电动偏转架上，使可移动分束片一与可移动分束片二在垂直于线性排列方向的平面上移动，以实现移入或移出线性排列。

所述传光光纤端头固定于光纤耦合器上，所述光纤耦合器设于二维手动调整架上，使传光光纤端头的入射端口轴线与线性排列方向重合。