[实用新型]一种高精度晶振自动测试机有效

专利信息
申请号: 202122217796.4 申请日: 2021-09-14
公开(公告)号: CN215728432U 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 张江平 申请(专利权)人: 南京从宇机电科技有限公司
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02;G01R15/00;G01R1/04
代理公司: 南京禾易知识产权代理有限公司 32320 代理人: 万萍
地址: 211100 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 高精度 自动 测试
【权利要求书】:

1.一种高精度晶振自动测试机,包括驱动箱体(1),其特征在于:所述驱动箱体(1)的上端设置有测试框架(2),所述测试框架(2)的内部设置有测试支架(6),所述测试支架(6)的前端设置有电缸机构(7),所述电缸机构(7)的一端外部设置有测试移动座(8),所述测试移动座(8)的表面设置有测试头机构(9),所述驱动箱体(1)的上端面设置有测试底座(10),所述测试底座(10)的上端设置有测试台(11),所述测试台(11)的两端均设置有感应板(18),所述感应板(18)的上表面设置有移动传感器(20),所述测试台(11)的前端设置有倾斜板(21),所述倾斜板(21)的内部设置有倾角传感器(22)。

2.根据权利要求1所述的一种高精度晶振自动测试机,其特征在于:所述感应板(18)的下端设置有螺栓(19),且感应板(18)通过螺栓(19)与测试台(11)螺纹连接,所述移动传感器(20)设置有两个。

3.根据权利要求1所述的一种高精度晶振自动测试机,其特征在于:所述倾斜板(21)与测试台(11)焊接连接,所述测试台(11)的上表面设置有限位槽(23),且限位槽(23)与测试台(11)为一体结构。

4.根据权利要求1所述的一种高精度晶振自动测试机,其特征在于:所述测试框架(2)的上端设置有顶架(5),所述顶架(5)的上端设置有提示灯组件(4)。

5.根据权利要求1所述的一种高精度晶振自动测试机,其特征在于:所述测试框架(2)的内壁设置有密封门(3),所述密封门(3)的表面设置有门把手(12),所述驱动箱体(1)的一侧设置有防盗门组件(16),所述防盗门组件(16)的一侧设置有门锁机构(17),所述防盗门组件(16)和密封门(3)的另一侧均设置有合页铰链(13)。

6.根据权利要求1所述的一种高精度晶振自动测试机,其特征在于:所述驱动箱体(1)的下端设置有万向轮组件(14),所述万向轮组件(14)的一侧设置有腿座(15),且万向轮组件(14)和腿座(15)均设置有四个。

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