[实用新型]一种硅微粉磁性物质检测装置有效

专利信息
申请号: 202122223846.X 申请日: 2021-09-13
公开(公告)号: CN216594636U 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 梁永航 申请(专利权)人: 连云港锐智新材料有限公司
主分类号: G01N5/00 分类号: G01N5/00
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 叶盛
地址: 222000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 硅微粉 磁性 物质 检测 装置
【说明书】:

实用新型涉及一种硅微粉磁性物质检测装置,包括收集器、电动升降杆、吸附搅拌组件和超声振荡器,所述检测装置本体上端左侧开有可放置收集器的凹槽,所述凹槽的右侧安装有电动升降杆,所述电动升降杆顶端安装有支撑架,所述支撑架一端与所述电动升降杆转动连接,另一端连接有吸附搅拌组件,所述吸附搅拌组件的下方且位于所述检测装置本体上端安装有超声振荡器,所述超声振荡器包括有水池和与超声振荡器电性连接的电路控制板。本实用新型设计的硅微粉磁性物质检测装置经济可靠,容易制造、组装和维护,可以精确的检测出硅微粉中磁性物质含量,并且对待检测的硅微粉没有量的限制,检测结果稳定。

技术领域

本实用新型涉及检测装置技术领域,特别是一种硅微粉磁性物质检测装置。

背景技术

硅微粉是一种应用于太阳能晶硅片切割的切割刃料,在晶硅片切割中切割机对刃料的要求非常严格,而铁的存在影响了硅片切割质量,硅微粉性能优劣直接影响切割的效率和合格率,因此在使用前必须对硅微粉中磁性杂质的含量进行检测。现有的检测方法有两种,一种通过对硅微粉进行成分分析,可以精确检测磁性杂质的含量,但测试设备昂贵,测试耗时较长。另一种是通过测量硅微粉的电导率对磁性杂质含量进行估算,但结果不够直观,误差较大。

实用新型内容

基于上述背景技术中存在的问题,本实用新型提出了一种硅微粉磁性物质检测装置,包括检测装置本体,所述检测装置本体上还包括收集器、电动升降杆、吸附搅拌组件和超声振荡器,所述检测装置本体上端左侧开有可放置收集器的凹槽,所述凹槽的右侧安装有电动升降杆,所述电动升降杆顶端安装有支撑架,所述支撑架的长度与所述凹槽圆心到电动升降杆轴心线的长度相同,所述支撑架一端与所述电动升降杆转动连接,另一端开有可供吸附搅拌组件穿过的圆通孔,所述吸附搅拌组件上与所述圆通孔接触处的上方成型有限制吸附搅拌组件竖直方向移动的限位块,所述吸附搅拌组件的下方且位于所述检测装置本体上端安装有超声振荡器,所述超声振荡器包括有水池和与超声振荡器电性连接的电路控制板,所述水池位于所述吸附搅拌组件的正下方,所述水池内放置有一用于存放硅微粉的敞口容器,所述电路控制板位于所述水池的右侧。

优选地,所述凹槽为圆形,所述收集器为称量瓶。

优选地,所述检测装置本体前侧依次安装有升降按钮、电磁开关和搅拌电机开关,所述升降按钮与所述电动升降杆电连接,所述电磁开关与所述吸附搅拌组件电连接,所述搅拌电机开关与所述吸附搅拌组件电连接。

优选地,所述电动升降杆输出端上部开有环形凹槽,所述环形凹槽与所述电动升降杆顶端间隔一段距离,所述支撑架一端开有与所述环形凹槽套设配合的圆孔,所述支撑架一端可绕环形凹槽360°旋转,所述圆孔侧壁上开有螺纹孔,所述螺纹孔上安装有紧固螺栓。

优选地,所述圆孔内径大于所述环形凹槽外径,所述圆孔内径小于升降杆外径。

优选地,所述吸附搅拌组件包括搅拌轴以及在搅拌轴上依次从上往下安装的驱动电机、若干金属吸附件和非磁性搅拌头,所述驱动电机与所述搅拌电机开关电连接,所述搅拌轴贯穿于所述圆通孔中,所述限位块成型于所述搅拌轴上且位于所述驱动电机与金属吸附件之间,所述非磁性搅拌头固定连接在所述搅拌轴底端,所述金属吸附件呈上小下大的喇叭状,所述金属吸附件下端闭合,所述搅拌轴与所述金属吸附件接触处固定连接有电磁块,所述电磁块与所述电磁开关电连接。

优选地,所述圆通孔的直径大于所述搅拌轴直径,所述限位块呈圆形,所述限位块外径大于所述圆通孔直径,所述非磁性搅拌头呈十字交叉状。

优选地,所述敞口容器为玻璃烧杯。

相对于现有技术而言,本实用新型的有益效果是:1)本实用新型设计的硅微粉磁性物质检测装置经济可靠,容易制造,组装和维护,可以精确的检测出硅微粉中磁性物质含量,并且对于待检测的硅微粉没有量的限制,检测结果稳定。

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