[实用新型]硅片碎片检测机构有效

专利信息
申请号: 202122283612.4 申请日: 2021-09-22
公开(公告)号: CN215896330U 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 王进;张进元;王永利;胡宏峰 申请(专利权)人: 上海珺竹精密机械有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/66
代理公司: 北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825 代理人: 周庆佳
地址: 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 硅片 碎片 检测 机构
【说明书】:

实用新型公开硅片碎片检测机构,涉及硅片生产加工领域。该硅片碎片检测机构,包括龙门架,龙门架的顶端固定安装有检测相机,龙门架的底端两侧均固定安装有固定组件,固定组件的内侧壁活动安装有照明灯。该硅片碎片检测机构,在使用时,硅片从固定组件的下方经过,此时照明灯对硅片进行照明,使得硅片表面的细微痕迹能够很好地被检测相机捕捉到,当有瑕疵的硅片经过固定组件下方时,检测相机捕捉到瑕疵情况并给出反馈,使得清洗机的输送部件做出反应直接将该瑕疵硅片剔除掉,以此提高硅片的成品合格率,同时提升检测的效率。

技术领域

本实用新型涉及硅片生产加工技术领域,具体为硅片碎片检测机构。

背景技术

在硅片生产的过程中,硅片必须经过严格清洗,微量污染也会导致器件失效,清洗的目的在于清除表面污染杂质,包括有机物和无机物,这些杂质有的以原子状态或离子状态,有的以薄膜形式或颗粒形式存在于硅片表面,会导致各种缺陷,清除污染的方法有物理清洗和化学清洗两种。

而在实际操作的过程中,为了提高整体清洗过程的速度,往往采用自动化机械设备替代人工进行清洗操作,但是在清洗的过程中,硅片经由输送部件进行移动,难免存在与设备发生碰撞或者是前期生产未发觉到的瑕疵和残缺,如果不及时查找出来,后期应用到半导体器件上,会直接导致该半导体器件为不合格产品,耗费更多的人力和成本,而传统的人工检测效率非常慢,而且精准度较差,因此需要提供一种硅片碎片检测机构,以此解决上述问题。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本实用新型公开了硅片碎片检测机构,以解决上述背景技术中提出的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:硅片碎片检测机构,包括龙门架,所述龙门架的顶端固定安装有检测相机,所述龙门架的底端两侧均固定安装有固定组件,所述固定组件的内侧壁活动安装有照明灯。

优选的,所述龙门架包括支撑柱、顶部横梁、安装杆和支撑杆,所述顶部横梁固定安装在支撑柱的顶端,所述安装杆固定安装在支撑柱的底端,所述支撑杆的两端分别固定安装在支撑柱和安装杆的外表面。

优选的,所述检测相机的侧面固定安装有安装座,所述安装座通过螺栓固定安装在顶部横梁的外表面。

优选的,所述固定组件的背面固定安装有装配板,所述装配板固定安装在支撑柱的外表面,所述安装杆的底部固定安装有支撑垫板。

优选的,所述固定组件包括固定板、安装架和挡片,所述固定板固定安装在装配板的外表面,所述安装架固定安装在固定板的两侧,所述挡片固定连接在安装架的端部。

优选的,所述安装架的内部且靠近固定板的一端固定安装有限位板,所述照明灯的两端分别转动连接在限位板和挡片的内部。

优选的,所述照明灯的两端均固定连接有限位轴,所述限位板和挡片的外表面均开设有弧形槽,所述限位轴滑动连接在弧形槽的内部,所述照明灯的外表面固定安装有电源线。

本实用新型公开了硅片碎片检测机构,其具备的有益效果如下:

1、该硅片碎片检测机构,通过将龙门架整体架设在插片清洗一体机上,通过螺栓将支撑垫板与清洗机主体进行安装,然后通过将装配板安装在支撑柱外表面适合的高度,在使用时,硅片从固定组件的下方经过,此时照明灯对硅片进行照明,使得硅片表面的细微痕迹能够很好地被检测相机捕捉到,当有瑕疵的硅片经过固定组件下方时,检测相机捕捉到瑕疵情况并给出反馈,使得清洗机的输送部件做出反应直接将该瑕疵硅片剔除掉,以此提高硅片的成品合格率,同时提升检测的效率。

2、该硅片碎片检测机构,通过在照明灯的两端均固定连接有限位轴,限位板和挡片的外表面均开设有弧形槽,限位轴滑动连接在弧形槽的内部,在使用时通过转动照明灯,使得限位轴在弧形槽内部转动,以此调整照明灯照明角度。

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