[实用新型]一种检查装置

说明书

提供了一种用于在不使探针与两个以上的光纤连接件分离的情况下同时对两个以上的光纤连接件的端面进行检查的检查装置。检查装置包括显微镜探针，该显微镜探针包括光源、分束器、固定透镜系统、可变焦距透镜系统和图像传感器。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2020年9月21日提交的美国临时专利申请第63/080971 号的权益，并且其全部内容以参见的方式纳入本文。

技术领域

本申请涉及用于对光纤连接件的端面进行检查的检查装置。

背景技术

光纤链路容易受到配合的连接件表面的灰尘、油污和其他污染物的影响。在单模光纤(SMF)链路的情况下，受污染的连接件会增加诸如回波损耗、相对强度噪声、多径干扰和插入损耗这样的不必要的性质。此外，处于光纤纤芯中的单个粒子可以完全阻止光信号在两个连接件之间传输。多模光纤(MMF)链路由于其纤芯尺寸较大，受污染连接件的影响较小。光学污染不太可能会完全阻止来自连接件的光。但是，由于衰减、模态功率分布和模态噪声的增加，连接件污染仍然会对信道性能产生影响。

随着对更高数据速率的需求的持续增长，光信道、SMF和MMF面临着更高的传输损耗，因此，对连接件端面中的污染变得更加敏感。受污染的连接件所存在的一个重要问题是它们可能会损坏连接件端面，并污染或损坏配合的连接件。在网络安装过程中，必须在连接之前对连接件端面是否清洁进行验证。

用于保持更高密度的光纤电缆的光纤盒是部署在数据中心的结构化布线的一部分。该光纤盒能够在较小的占地面积内实现高速光纤链路的灵活互连。目前，检查工具使用单个显微镜探针来检查安装在光纤盒上的连接件或适配器。此外，与标准或高密度的光纤盒中的端口尺寸相比，现有设备中使用的显微镜探针中的光学元件的尺寸较大。因此，现有的检查工具一次只允许检查单个插头(例如LC)或连接件。这种低效率显著地增加了对包含在连接件的盒中的所有连接件进行检查的检查时间。能够同时对盒的多个端口进行检查的装置将减少检查时间。

实用新型内容

本公开描述了一种用于对多个连接件的污染进行检查的装置和方法，更具体地，描述了一种对连接件端面的污染进行检查的装置和方法。根据一些实施方式，多个连接件可以安装在高密度的光纤盒上。根据其他实施方式，多个连接件可以是独立的，并且还未安装到高密度的光纤盒上。

根据一种实施方式，公开了一种用于在不使探针与两个以上的光纤连接件分离的情况下同时对两个以上的光纤连接件的端面进行检查的检查装置。检查装置包括显微镜探针，该显微镜探针包括光源、分束器、固定透镜系统、可变焦距透镜系统和图像传感器。

根据另一种实施方式，一种检查装置用于在不与光纤连接件分离的情况下同时对光纤连接件的端面进行检查，检查装置包括显微镜探针。显微镜探针包括：光源；分束器；固定透镜系统；可变焦距透镜系统；以及图像传感器。检查装置还包括处理器以及与处理器通信的机器可读的存储设备，存储设备构造成存储用于使所述处理器进行如下操作的指令：对所述显微镜探针进行控制以在所述光纤连接件上进行测试流程；以及对显示设备进行控制以显示基于所述测试流程的测试结果信息。

附图说明

图1示出了用于保持多根光纤电缆的高密度盒的立体图。

图2示出了用于对连接件端面进行检查的检查工具的立体图。

图3示出了图2所示检查工具的沿线3-3剖切的立体剖视图。

图4示出了根据第一实施方式的显微镜探针的框图。

图5示出了根据第二实施方式的显微镜探针的框图。

图6示出了检查系统的立体图，该检查系统包括图2中所示的检查工具的以组装状态连接在一起的阵列，以用于对包括在高密度盒中的多个连接件端面进行检查。

具体实施方式