[实用新型]测试治具

说明书

本实用新型实施例涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种测试治具。本实用新型实施例旨在解决在测试阶段插拔时易导致卡片脱落的技术问题。本实用新型实施例提供的测试治具，卡板的安装侧上设置有卡槽，测设卡设置在卡槽内，覆盖片覆盖在安装侧上，并且覆盖片可打开的与卡板之间连接，覆盖片正对卡槽设置；在进行测试的过程中，覆盖片处于覆盖在卡板上，并且封闭卡槽的关闭状态，进而避免在插、拔卡板的过程中测试卡由卡槽内掉落，进而避免测试卡与卡板脱离。

技术领域

本实用新型实施例涉及测试设备技术领域，尤其涉及一种测试治具。

背景技术

在手机、平板电脑等电子设备的生产过程中，一般需要进行多次的测试，以保证产品质量。例如：在电路板制作完成后，需要将存储卡(Secure Digital Memory Card,SD)或用户识别卡(Subscriber Identity Module,SIM)插设在电路板上，以测试电路板中用于和SD卡或SIM卡配合的结构。

相关技术中，常将SD卡或SIM卡放置在卡托上来实现测试；具体地，卡托包括托板，托板上设置有卡槽；测试时，将SD卡或SIM卡放置在卡槽内，测试人员手持卡板，并将卡板插设在电路板上的卡座内，以实现对电路板的测试。

然而，在完成测试后，需将卡板由卡座上拔出，此过程中SD卡或SIM卡容易与卡槽脱离，进而掉落。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型实施例提供一种测试治具，以解决卡托在测试阶段插拔时易导致卡片脱落的技术问题。

本实用新型实施例提供了一种测试治具，包括：卡板及覆盖片，所述卡板的安装侧设置有用于容置测试卡的卡槽，所述覆盖片覆盖在所述安装侧上，所述覆盖片与所述卡板之间可打开的连接，且所述覆盖片正对所述卡槽设置。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述覆盖片的第一端与所述卡板铰接，所述覆盖片的第二端与所述卡板可拆卸的连接。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述覆盖片的第二端与所述卡板卡接。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述覆盖片的第二端设置有第一卡接部和第二卡接部，所述第一卡接部和所述第二卡接部相对设置；所述卡板具有位于所述第一端和所述第二端之间的第三端和第四端，所述第三端设置有第三卡接部，所述第四端设置有第四卡接部，所述第一卡接部与所述第三卡接部卡接，所述第二卡接部与所述第四卡接部卡接。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述第一卡接部包括向所述卡板延伸的第一卡接板，所述第一卡接板弯折形成第一卡接槽；所述第二卡接部包括向所述卡板延伸的第二卡接板，所述第二卡接板弯折形成第二卡接槽。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述第三卡接部包括向所述卡板外延伸的第一凸出部，所述第四卡接部包括向所述卡板外延伸的第二凸出部。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述覆盖片朝向所述卡板的一侧设置有抵顶部，所述抵顶部用于抵顶在所述测试卡上。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述测试治具还包括拉手，所述卡板具有用于插设在测试电路板的卡座内的插接端、以及位于所述卡座外的外露端，所述拉手与所述外露端连接。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述拉手的一端设置有接合部，所述接合部上设置有接合板，所述外露端上设置有连接槽，所述接合板贴附在所述连接槽的槽底，且所述接合板与所述外露端铆接。

在可以包括上述实施例的一些实施例中，所述接合部的边缘设置有针孔，所述针孔用于供卡针穿过。