[实用新型]PMU并行测试装置

说明书

本实用新型涉及PMU并行测试装置，包括PC机，ISA总线接口扩展板，PMU测试卡，和时序控制调度卡五个部分；PC机包含ISA总线master驱动和操作软件；ISA总线接口扩展板具有具有6个ISA卡槽；PMU测试卡共有四块，对应四路测试，每个PMU测试卡中包括FPGA控制单元和PMU测试单元；时序控制调度卡主包括FPGA和IO驱动。总体上PC机通过ISA总线和ISA总线接口扩展板连接PMU测试卡和时序控制调度卡；时序控制调度卡通过IO驱动输出信号调度4路PMU测试卡进行并行测试，并行测试可以同时亦可以分时。该PMU并行测试方案，结构灵活，实现4路PMU的高速把并行测试，同时针对不同的应用可以设置不同的测试条件，既同时又分时的进行并行测试，保证应用端的广泛适用性。

技术领域

本实用新型涉及一种PMU并行测试领域，特别涉及PMU并行测试装置。

背景技术

一直以来，国内的半导体行业在国际范围内都属于短板，也有测试设备等级低不完善等一些因素，随着近年来三代半导体在材料及工艺技术等领域的发展，同时也带动了测试设备的快速发展。

半导体产业发展的背景下，随着集成芯片的集成度和性能的不断提升，芯片的产能需求越来越高，芯片的管脚数量也日益剧增，对测试设备的测试速度要求也越来越高，而测试速度和效率也关系着下一阶段半导体发展的前景。目前国内半导体行业在发展落后的情况下，更需要合适合理的测试设备和测试方案的出现。

新世纪随着FPGA技术的迅速发展，多通道集成电路测试在技术上具有更高效有力的技术基础；同时国内半导体测试行业经过近期20年的发展，虽说发展缓慢，但是也慢慢积累了不少有效的经验，在此技术的基础上，也为实现更高速度和效率的测试系统和方案提供了技术支持。

目前的关键问题在于传统的集成电路的直流参数测试，测试通道单一，效率低，单位时间内检测的集成电路IC的数量有限，无法带动厂家的生产产能。

因此，有必要推出一种并行的PMU测试方案，通过多路并测的方式，节约测试时间，提高产能效率，来保障和推动国内半导体行业的快速发展。

实用新型内容

本实用新型克服了现有技术的不足，本实用新型提供一种PMU并行测试的方案，本测试方案结构灵活，实现4路PMU的高速的并行测试，同时针对不同的应用可以设置不同的测试条件，既同时又分时的进行并行测试，保证应用端的广泛适用性。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

PMU并行测试装置，其特征在于：其包括PC机，I SA总线接口扩展板，PMU测试卡和时序控制调度卡，所述I SA总线接口扩展板将PC机和从机所有的板卡进行物理连接，作为PC机和其他所有板卡的通讯媒介；

PMU测试卡，所述PMU测试卡包含FPGA控制单元和PMU测试单元，FPGA控制单元通过I SA总线和PC机进行交互，获取测试条件或者上传测试数据；PMU测试单元同过FPGA单元的控制，构成相应的测试回路，完成加电和数据测试；

时序控制调度卡，所述时序控制调度卡通过I SA总线和FPGA交互，获取时序调度信息，然后调度PMU测试卡中的FPGA控制单元，完成PMU测试卡之间的时序调度，实现并行同步或者并行异步的加电和测试。

进一步的，所述I SA总线接口扩展板，共有6个卡槽，6个卡槽并联出6路ISA总线接口，实现PC机和多块板卡的连接。

进一步的，所述PMU测试卡共有4块，安装在ISA总线扩展板的卡槽上；每个PMU测试卡可独立操作或者相互之间协同作业，用于进行并行同步或并行异步的电印加测试。

进一步的，所述时序控制调度卡包括FPGA控制器和IO控制器；FPGA控制器通过ISA总线和PC机交互，IO控制器和PMU测试卡交互，实现时序的控制和调度。