[实用新型]一种光学显微镜畸变测量用线纹尺有效

专利信息
申请号: 202122409086.1 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN215865750U 公开(公告)日: 2022-02-18
发明(设计)人: 房永强;白新房;郑铱;马晓晨;毕革平;鲁文婧 申请(专利权)人: 西安汉唐分析检测有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安创知专利事务所 61213 代理人: 马凤云
地址: 710000 陕西省西安市*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 显微镜 畸变 测量 用线纹尺
【说明书】:

实用新型公开了一种光学显微镜畸变测量用线纹尺,包括四个呈米字形交叉于一点布设的直线线纹尺,相邻两个所述直线线纹尺的夹角为45°,四个所述直线线纹尺的计量值均由交叉点向两侧逐渐增大,四个所述直线线纹尺包括一个第一分度直线线纹尺和三个第二分度直线线纹尺,第一分度直线线纹尺的分度值小于第二分度直线线纹尺分度值。本实用新型通过设置四个呈米字形布设的直线线纹尺对显微镜系统畸变进行测量,数码相机拍摄显微镜目镜下的米字形线纹尺的图像,再通过测量图像上四个方向不同长度的所占的像素数来判断显微镜系统畸变的类型,一次拍摄的图像即可作为全部测量的对象,减少由于数码相机拍摄的问题存在的测量误差,使测量结果更加准确。

技术领域

本实用新型属于显微镜畸变测量技术领域,具体涉及一种光学显微镜畸变测量用线纹尺。

背景技术

光学显微镜是进行微观检测分析的重要设备,由物镜、中间透镜和目镜组成,其总放大倍率一般小于2000×,广泛应用于生物、医学、地矿、材料、纺织等领域。由于透镜材料的特性或折射或反射表面的几何形状的原因,在光学显微镜中观察到的实际像与理想像的存在一定的像差,即光学显微镜的畸变,它是显微镜的物镜、目镜、镜筒系数、光路产生的综合性、系统性的畸变。光学显微镜的畸变分为桶形畸变、枕形畸变和透视畸变。桶形畸变是显微镜横向放大率随视场的增大而减小的畸变,它使对称于光轴的正方形物体的像呈桶形;枕形畸变是显微镜横向放大率随视场的增大而增大的畸变,它使对称于光轴的正方形物体的像呈枕形。透视畸变是由于显微镜光轴与样品观察面或成像面不严格的垂直而形成,它使对称于光轴的正方形物体的像呈梯形。

目前,针对显微镜的畸变,现有技术存在降低光学显微镜畸变的方法,但没有明确指标要求和测量方法。国内相关国家、行业、地方标准以及计量技术规程/规范没有对显微镜各透镜畸变、不同总放大倍率下目镜中观察图像的畸变以及相应的畸变测量方式做出规定。国外ASTM相关校准规范也未涉及畸变及其测量方式。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足,提供一种光学显微镜畸变测量用线纹尺,其结构简单,设计合理,实用性强,通过设置四个呈米字形布设的直线线纹尺对显微镜系统畸变进行测量,数码相机拍摄显微镜目镜下的米字形线纹尺的图像,再通过测量图像上四个方向不同长度的所占的像素数来判断显微镜系统畸变的类型,由于米字形线纹尺有四个不同方向的直线线纹尺,因此一次拍摄的图像即可作为全部测量的对象,以减少由于数码相机拍摄的问题存在的测量误差,使测量结果更加准确,使用效果好。

为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案是:一种光学显微镜畸变测量用线纹尺,其特征在于:包括石英玻璃片和设置在石英玻璃片上的四个呈米字形交叉于一点布设的直线线纹尺,相邻两个所述直线线纹尺的夹角为45°,四个所述直线线纹尺均以交叉点为零刻度线,且其计量值均由交叉点向两侧逐渐增大,四个所述直线线纹尺包括一个第一分度直线线纹尺和三个第二分度直线线纹尺,第一分度直线线纹尺的分度值小于第二分度直线线纹尺分度值。

上述的一种光学显微镜畸变测量用线纹尺,其特征在于:所述第一分度直线线纹尺的分度值为第二分度直线线纹尺分度值的1/4。

上述的一种光学显微镜畸变测量用线纹尺,其特征在于:所述第一分度直线线纹尺的分度值为0.01mm,第二分度直线线纹尺的分度值为0.04mm。

上述的一种光学显微镜畸变测量用线纹尺,其特征在于:所述第一分度直线线纹尺和第二分度直线线纹尺的长度相等。

本实用新型与现有技术相比具有以下优点:

本实用新型结构简单,通过设置四个呈米字形布设的直线线纹尺对显微镜系统畸变进行测量,数码相机拍摄显微镜目镜下的米字形线纹尺的图像,再通过测量图像上四个方向不同长度的所占的像素数来判断显微镜系统畸变的类型,由于米字形线纹尺有四个不同方向的直线线纹尺,因此一次拍摄的图像即可作为全部测量的对象,以减少由于数码相机拍摄的问题存在的测量误差,使测量结果更加准确,使用效果好。

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