[实用新型]双轴枢轴器过零度检测结构

权利要求书

1.双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：包括支撑底座(1)；

支撑底座(1)上设置有位于右侧的定位支撑座(2)、位于前侧的承架支撑座(3)、位于左侧的套筒支撑座(4)及位于后侧的双轴支撑座(5)；定位支撑座(2)上开设有定位槽口(6)，定位槽口(6)贯穿定位支撑座(2)的左端；

承架支撑座(3)上开设有承架滑动通口(7)，承架滑动通口(7)处可前后向滑动地设置有承架检测座(8)，承架检测座(8)的后端开设有承架检测口(9)，承架检测口(9)贯穿承架检测座(8)的后端；

套筒支撑座(4)上开设有套筒滑动通口(10)，套筒滑动通口(10)处可左右向滑动地设置有套筒检测座(11)，套筒检测座(11)上开设有贯穿右端的套筒口(12)；

双轴支撑座(5)上开设有双轴滑动通口(13)，双轴滑动通口(13)处可前后向滑动地设置有双轴检测块(14)。

2.根据权利要求1所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述定位支撑座(2)上还设置有锁紧组件；

锁紧组件包括开设在定位支撑座(2)上且与所述定位槽口(6)连通的定位滑动腔(15)，定位滑动腔呈两端开口小且内腔大的设置；

定位滑动腔(15)内可上下滑动地设置有定位锁定杆(16)，定位锁定杆(16)的外表面套接有定位抵接环(17)，定位滑动腔(15)内还设置有定位弹性件(18)，定位弹性件(18)的上下两端分别作用于定位抵接环(17)和定位滑动腔(15)的腔壁，使得：定位锁定杆(16)能抵接在定位槽口(6)的槽底，且定位锁定杆(16)的顶端上凸于定位滑动腔的顶端开口。

3.根据权利要求2所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述定位锁定杆(16)上开设有定位限位槽口(19)；

所述定位滑动腔(15)顶端开口内凸有能与定位限位槽口(19)配合的定位限位凸起(20)，定位限位凸起(20)可相对定位限位槽口(19)上下移动。

4.根据权利要求2所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述锁紧组件设置有三组，三组锁紧组件的定位锁定杆(16)的顶端连接有同一定位连接杆(21)。

5.根据权利要求2所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述定位锁定杆(16)上设置有锁定标记线(22)。

6.根据权利要求1所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述承架检测座(8)上设置有检测组件；

检测组件包括开设在承架检测座(8)上且与所述承架检测口(9)连通的检测滑动腔(23)，检测滑动腔呈两端开口小且内腔大的设置；

检测滑动腔(23)内可上下滑动地设置有检测杆(24)，检测杆(24)的外表面套接有检测抵接环(25)，检测滑动腔(23)内还设置有检测弹性件(41)，检测弹性件(41)的上下两端分别作用于检测滑动腔(23)的腔壁和检测抵接环(25)，使得：检测杆(24)能收纳于检测滑动腔(23)内，且检测杆(24)的底端下凸于检测滑动腔(23)的底端开口。

7.根据权利要求6所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述检测杆(24)上开设有检测限位槽口(26)；

所述检测滑动腔(23)底端开口内凸有能与检测限位槽口(26)配合的检测限位凸起(27)，检测限位凸起(27)可相对检测限位槽口(26) 上下移动。

8.根据权利要求6所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述检测组件设置有四组，四组锁紧组件的检测杆(24)的顶端连接有同一检测连接杆(28)。

9.根据权利要求1所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述套筒检测座(11)上还设置有位于所述套筒口(12)内的套筒连接杆(29)，套筒连接杆(29)的右端设置有贯穿针(30)。

10.根据权利要求1所述的双轴枢轴器过零度检测结构，其特征在于：所述承架检测座(8)上设置有条形开口(31)；

所述承架滑动通口(7)上设置有穿过条形开口(31)且可相对条形开口(31)滑动的承架限位杆(32)。