[实用新型]一种分区式晶体管老化系统

说明书

本发明涉及晶体管老化技术领域，尤其涉及一种分区式晶体管老化系统，包括老化台，老化台上设有控制模块、若干相互独立的老化工作区以及各个老化工作区所配套的老化电源、极性转换开关、报警装置，老化工作区内设有工位组，工位组上放置待测试晶体管，工位组通过驱动模块与控制模块连接。各个老化工作区设有可开关的柜门。老化工作区内设有温度传感器。老化台还设有水冷循环装置，水冷循环装置为分区设置，分别对各个老化工作区的温度进行调节。本发明具有如下有益效果：通过分区式的老化工作区以及分区的水冷循环装置，可以在老化台上同时模拟不同的老化环境，实现在同一时间在不同老化环境下对晶体管进行老化测试。

技术领域

本发明涉及晶体管老化技术领域，尤其涉及一种分区式晶体管老化系统。

背景技术

在电子技术飞速发展的今天，对整机的可靠性要求越来越高，电子元器件在正式使用之前进行筛选就显得非常必要。各种电子元器件包括二极管、晶体管、集成电路等在正常工作中往往由于制造缺陷等原因导致元器件失效而影响到整机的可靠性，因此在使用某批元器件时预先对该批元器件进行可靠性试验是极为重要的。

电子元器件的失效现象可分为早期失效、随机失效和耗损失效，失效率因工作阶段（加电应力时间）而异，图1表示了各工作阶段和失效率的关系。批量很大的一批产品，未经任何老化措施即投入使用，会发现该批产品在开始工作时失效率很高，但很快就逐渐降低。失效率下降的这个阶段称为早期寿命期。在这个时期内失效发生的原因是由于制造缺陷所致，不合格元器件在Te前失效后，元器件失效率就稳定下来，这段工作时期称为使用寿命期，这时期发生的失效率称为“随机”“偶发”“突发”失效。因为这些失效是随机的，是不可预测的，当产品工作到Tw时刻后，开始出现退化现象，失效率重新提高，这是因为元器件接近于 “额定寿命”而出现老化和损耗所致。

因此在大批量电子元器件使用前，常常需要通过老化测试促使隐藏于电子元器件内部的各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效的电子元器件的目的。

专利CN202022605861.6公开了一种老化测试板及其老化测试架，包括老化测试板体和定位凹槽，所述老化测试板体的前表面设置有控温板体，且控温板体的外侧设置有插口组，所述老化测试板体的内侧开设有散热口，且老化测试板体的左右两侧均开设有定位滑块，所述定位凹槽开设于定位滑块的外侧上端，且定位凹槽的内部设置有固定卡块，所述固定卡块的上端连接有定位转轴，且固定卡块的外侧固定有限位杆，所述限位杆的外侧设置有测试架体，且测试架体的下端固定有支撑柱。

上述技术方案与传统的老化台虽然能够实现晶体管的老化测试，但是仍然存在着不小的缺陷：在同一时间内只能提供单一的老化环境，在单一的老化环境下进行老化测试，无法满足同时在多种环境下进行老化晶体管的要求。

发明内容

本发明的主要目的在于克服现有技术中的不足，提供一种分区式晶体管老化系统。该老化系统具有实现分区老化等优点。

本发明为实现其技术目的所采用的技术方案是：一种分区式晶体管老化系统，包括老化台，其结构特点在于：所述老化台上设有控制模块、若干相互独立的老化工作区以及各个老化工作区所配套的老化电源、极性转换开关、报警装置，所述老化工作区内设有工位组，所述工位组上放置待测试晶体管，所述工位组通过驱动模块与控制模块连接，所述驱动模块固定于所述老化工作区内；各个所述老化工作区设有可开关的柜门。

所述老化工作区内设有温度传感器，对老化工作区的温度进行测温，进行反馈，便于及时调节温度。

所述老化台还设有水冷循环装置，所述水冷循环装置为分区设置，分别对各个老化工作区的温度进行调节，使各个老化工作区可同时在不同老化环境下进行老化工作。

所述控制模块控制老化系统整体运行，与温度传感器、水冷循环装置、驱动模块电连接，及时接受温度传感器的温度信号，通过水冷循环装置作出反馈，及时调整老化工作区内温度。