[实用新型]一种IGBT测试夹具

说明书

本实用新型提供了一种IGBT测试夹具，包括铜排和与铜排固定连接的固定轴，所述固定轴自由穿过一顶块，固定轴上套设有被限制在铜排与顶块之间的压紧弹簧。本实用新型的优点在于：铜排与固定轴配合的一端通过压紧弹簧压紧在IGBT的PIN引脚上，从而快速实现铜排的固定连接，不需要使用螺栓连接，在电容与IGBT位置不匹配时，不会导致铜排变形产生较大的内应力，提高设备使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及IGBT测试技术领域，尤其涉及一种IGBT测试夹具。

背景技术

专项测试系统是用于为IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor，绝缘栅双极型晶体管)测试提供一个安全，稳定，可靠的直流电源供应，系统内部集成双端电压检测、电流检测及温度检测。具有过压、过流以及过温保护功能，当有故障发生时可以及时保护系统及后级被测件的安全，系统提供一个开放的可调保护阈值以兼容不同型号IGBT的测试需要。目前的测试工装通过固定的铜排连接IGBT和电容的PIN引脚，在IGBT和电容的位置偏差时，铜排两端分别与PIN引脚固定，导致铜排自身变形的内应力较大，容易损坏铜排以及导致引脚连接的可靠性降低，影响测试结果。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种铜排能够快速的与PIN引脚连接并降低铜排内应力的IGBT测试夹具。

本实用新型是通过以下技术方案解决上述技术问题的：一种IGBT测试夹具，包括铜排和与铜排固定连接的固定轴，所述固定轴自由穿过一顶块，固定轴上套设有被限制在铜排与顶块之间的压紧弹簧。

本实用新型的铜排与固定轴配合的一端通过压紧弹簧压紧在IGBT的PIN引脚上，从而快速实现铜排的固定连接，不需要使用螺栓连接，在电容与IGBT位置不匹配时，不会导致铜排变形产生较大的内应力，提高设备使用寿命。

优选的，所述顶块上固定有多个所述固定轴，每个所述固定轴与一个所述铜排固定连接。

优选的，所述铜排上固定有安装螺母，所述固定轴的下端与安装螺母螺接配合。

优选的，所述顶块上设置有直线轴承，所述固定轴穿过直线轴承连接铜排。

优选的，所述顶块两端分别螺接固定有支座，所述支座与待测试的IGBT固定连接，所述顶块被支座悬空固定。

优选的，所述固定轴的上端还螺接固定有一限位螺母，所述顶块处于安装螺母和限位螺母之间。

优选的，所述安装螺母和限位螺母均为绝缘材料制作。

优选的，所述铜排一端被固定轴压紧在IGBT的PIN引脚上，另一端与测试电容的PIN引脚固定连接。

本实用新型提供的IGBT测试夹具的优点在于：铜排与固定轴配合的一端通过压紧弹簧压紧在IGBT的PIN引脚上，从而快速实现铜排的固定连接，不需要使用螺栓连接，在电容与IGBT位置不匹配时，不会导致铜排变形产生较大的内应力，提高设备使用寿命。通过直线轴承对固定轴进行限位，防止铜排松动，降低铜排内应力，固定轴上端螺接有限位螺母，防止顶块从固定轴上滑出。

附图说明

图1为本实用新型的实施例提供的IGBT测试夹具的示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。