[实用新型]一种低极化影响可测高电导的高精度电导率仪有效

专利信息
申请号: 202122553144.8 申请日: 2021-10-22
公开(公告)号: CN216117810U 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 陈廷胜;孙羽 申请(专利权)人: 成都世纪方舟科技有限公司
主分类号: G01R27/22 分类号: G01R27/22
代理公司: 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 代理人: 孔凡玲
地址: 610000 四川省成都市锦江区大*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 极化 影响 测高 电导 高精度 电导率
【权利要求书】:

1.一种低极化影响可测高电导的高精度电导率仪,其特征在于:包括由两片平行设置的铂金片构成的电极,电极中一片铂金片通过导线、连接接口与仪器内部串联设置的限流电阻一端电连接,限流电阻另一端与运算放大器的输出端电连接,而电极中另一片铂金片通过导线、连接接口与I/V变换运算放大器的负极输入端电连接,I/V变换运算放大器的输出端与检波器电连接,检波器的输出端与二阶RC滤波器电连接,二阶RC滤波器输出端与A/D转换器电连接,A/D转换器的输出端与处理器电连接,所述处理器还与显示器电连接。

2.根据权利要求1所述的一种低极化影响可测高电导的高精度电导率仪,其特征在于:所述电极的两铂金片之间设置有电压Ux,所述电压Ux为交变电压。

3.根据权利要求1所述的一种低极化影响可测高电导的高精度电导率仪,其特征在于:所述限流电阻的阻值范围为50Ω~500Ω。

4.根据权利要求1所述的一种低极化影响可测高电导的高精度电导率仪,其特征在于:所述电导率仪的基本测量范围为0~200mS/cm,当配电极常数为10的铂金片电极测量时,仪器的测量范围为0~2000mS/cm。

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