[实用新型]一种用于冲击缺口的测量装置及测量系统有效

专利信息
申请号: 202122600473.3 申请日: 2021-10-27
公开(公告)号: CN216081328U 公开(公告)日: 2022-03-18
发明(设计)人: 刘波;王秀旗;张玉俏;刘明辉;刘二虎;李玉岗;李宇楠;李青章;黄建超;陈涛 申请(专利权)人: 天津泰格瑞祥仪器设备有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02;G01B11/06;G01B11/24;G01B11/22;G01B11/26;G01B11/00
代理公司: 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 代理人: 芦玲玲
地址: 301906 天津市蓟*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 冲击 缺口 测量 装置 系统
【说明书】:

实用新型涉及一种用于冲击缺口的测量装置及测量系统,测量系统包括测量装置及显示装置,测量装置与显示装置通信连接;测量装置包括至少两个测量机构;测量机构包括拍摄组件以及放置组件,放置组件位于拍摄组件的一侧;拍摄组件包括滑柱以及拍摄机构,拍摄机构位于滑柱朝向放置组件的一侧,拍摄机构与滑柱可滑动连接,拍摄机构与放置组件对应设置,拍摄机构用于采集放置于放置组件上的冲击缺口的图像数据;通过设置测量装置与显示装置通信连接,拍摄机构将采集到的冲击缺口的图像数据传输至显示装置中,显示装置将图像数据分析后显示出测量结果;与传统的冲击缺口测量相比,有效消除了人为测量误差;提高了测量精度;同时,提高了测量效率。

技术领域

本实用新型涉及测量装置技术领域,尤其是涉及一种用于冲击缺口的测量装置及测量系统。

背景技术

目前,冲击试验对于冲击试样缺口要求严格,缺口的微小变化,都会引起试验结果出现误差,为保证加工出的冲击试样缺口合格,缺口的加工质量检验是一个重要的控制手段。

传统的冲击试样缺口的测量常采用冲击试样缺口投影仪进行测量。

然而,采用冲击试样缺口投影仪对冲击试样缺口进行测量,需人工进行目测,导致测量精度低;同时,导致测量效率低。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足,本实用新型的目的是提供一种用于冲击缺口的测量装置及测量系统,其优点是能够提供测量精度和测量效率。

本实用新型的上述实用新型目的是通过以下技术方案得以实现的:一方面,本实用新型提供一种用于冲击缺口的测量装置,包括至少两个测量机构;两个所述测量机构间隔设置;所述测量机构包括拍摄组件以及放置组件,所述放置组件位于所述拍摄组件的一侧,所述放置组件用于放置待测量的所述冲击缺口;所述拍摄组件包括滑柱以及拍摄机构,所述拍摄机构位于所述滑柱朝向所述放置组件的一侧,所述拍摄机构与所述滑柱可滑动连接,所述拍摄机构与所述放置组件对应设置,所述拍摄机构用于采集放置于所述放置组件上的所述冲击缺口的图像数据。

优选地,本实用新型提供的用于冲击缺口的测量装置,所述滑柱包括本体以及丝杠,所述本体的底端开设有沿着所述本体的第一方向延伸的豁口,所述豁口沿着所述本体的第二方向延伸、且贯穿所述本体的侧壁;所述丝杠的底端穿过所述本体的顶端穿设于所述豁口内,所述丝杠能够相对所述本体转动,所述拍摄机构与所述丝杠可滑动连接,所述丝杠转动驱动所述拍摄机构沿着所述丝杠滑动。

优选地,本实用新型提供的用于冲击缺口的测量装置,所述拍摄机构包括连接件以及相机,所述连接件插设于所述豁口内,且所述连接件与所述丝杠可滑动连接,所述连接件的两端伸出所述豁口,所述连接件的两个伸出端均与所述相机连接。

优选地,本实用新型提供的用于冲击缺口的测量装置,所述连接件的截面形状呈U型。

优选地,本实用新型提供的用于冲击缺口的测量装置,所述放置组件包括支撑块以及光源件,所述支撑块的顶端开设有沿着所述第一方向延伸的容纳槽,所述光源件容置于所述容纳槽内,所述容纳槽的顶端盖设有透明板;所述冲击缺口放置于所述透明板的顶面。

优选地,本实用新型提供的用于冲击缺口的测量装置,还包括支撑架,所述测量机构设置于所述支撑架的顶面。

优选地,本实用新型提供的用于冲击缺口的测量装置,所述丝杠的顶端设置有手柄,所述手柄用于驱动所述丝杠转动。

优选地,本实用新型提供的用于冲击缺口的测量装置,还包括光源控制器,光源控制器用于调节所述光源件的亮度。

优选地,本实用新型提供的用于冲击缺口的测量装置,所述支撑块的外侧壁上开设有散热口,所述散热口与所述容纳槽连通。

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