[实用新型]一种穆勒矩阵测量装置

权利要求书

1.一种穆勒矩阵测量装置，其特征在于，包括：

用于产生多个不同偏振态的入射偏振光的光源；

第一分光器，设置在所述光源的出射光路上，用于将入射偏振光分成两路入射偏振光；

第一检偏器，设置在所述第一分光器的反射光路上，用于对所述第一分光器分出的一路入射偏振光进行实时检偏以获取入射偏振光的偏振态；

入射光路，设置在所述第一分光器的透射光路上，用于将所述第一分光器分出的一路入射偏振光投射在样品上；

接收光路，设置在所述入射光路一侧，且与所述入射光路之间形成夹角，用于接收样品被照射后所散射的出射光；

第二检偏器，设置在所述接收光路远离样品的一侧，用于对所述接收光路接收的出射光进行实时检偏以获取出射光的偏振态；

其中，所述光源包括多个用于分别产生不同偏振态的入射偏振光的发光组件、与多个发光组件连接并用于控制多个发光组件开关的控制器以及设置在多个发光组件的出射光路上并将多个发光组件发出的入射偏振光投射到第一分光器上的投射组件。

2.根据权利要求1所述的穆勒矩阵测量装置，其特征在于，所述发光组件包括与控制器连接的激光器和设置在激光器的出射光路上的第一偏振片。

3.根据权利要求1所述的穆勒矩阵测量装置，其特征在于，所述投射组件包括多个依次设置的第二分光器，多个所述发光组件中的一个发光组件设置在投射组件一侧，并设置在第二分光器的透射光路上，其余所述发光组件与多个第二分光器一一对应，并分别设置在对应的第二分光器的反射光路上。

4.根据权利要求1所述的穆勒矩阵测量装置，其特征在于，所述发光组件的数量为六个。

5.根据权利要求1所述的穆勒矩阵测量装置，其特征在于，还包括微流控芯片，所述微流控芯片内设有芯片入口通道、第一芯片出口通道和若干第二芯片出口通道，所述第一芯片出口通道与芯片入口通道之间连接有单细胞通道，所述单细胞通道设置在入射光路的出射光路上，若干所述第二芯片出口通道分别与芯片入口通道连接。

6.根据权利要求5所述的穆勒矩阵测量装置，其特征在于，所述第二芯片出口通道的数量为两个，所述第一芯片出口通道设置在两个第二芯片出口通道之间。

7.根据权利要求1所述的穆勒矩阵测量装置，其特征在于，所述入射光路包括用于将入射偏振光汇聚的第一凸透镜。

8.根据权利要求1所述的穆勒矩阵测量装置，其特征在于，所述接收光路包括依次设置的第二凸透镜、光阑和第三凸透镜。