[实用新型]一种霍尔电流传感器的原边大电流测试工装

说明书

本发明创造提供了一种霍尔电流传感器的原边大电流测试工装，包括底座和上盖，所述底座的上表面设有用于霍尔电流传感器的放置位；所述上盖在测试时设置于底座上方，所述上盖上设有贯穿上盖的上部仿形电流排和上部测试针，所述上部仿形电流排和上部测试针均为导体，所述上部仿形电流排的底部与霍尔电流传感器的原边针脚相对应，用于向原边针脚输入大电流，所述上部测试针的底部与霍尔电流传感器的信号针脚的上表面抵接。本发明创造所述的霍尔电流传感器的原边大电流测试工装，能够保证产品长时间、大电流工作，从而提高产品的测试精度，并且有效提高了测试效率，也减少了针脚损坏，测试后还能继续使用。

技术领域

本发明创造属于霍尔电流传感器测试技术领域，尤其是涉及一种霍尔电流传感器的原边大电流测试工装。

背景技术

当前所有的集成封装的霍尔电流传感器，由于原边引脚很小，在测试时无法长时间给额定电流，在安装的PCB板上的时候由于焊接到一起，电阻较小，能够长时间给额定电流。

以SO8霍尔芯片为例阐述现有霍尔芯片原边测试的两种方法：

1.在产品开发验证阶

在产品开发阶段，为了保证芯片原边电流的稳定性，通常均会采用焊接到PCB板的方法进行测试。霍尔芯片原边焊接到PCB板后，能够完全保证霍尔芯片管脚与导体有效接通，并且电阻很小，能够完全保证被测电流稳定，测试数据更可靠。但该方案中，由于原边需要焊接，焊接后产品拆下时会造成一定的损伤，并且拆下后产品管脚会沾锡，造成产品无法进行销售，故该方案不适用于量产产品。

2.在生产阶段

生产阶段，一般采用芯片座进行测试。芯片座内部每个副边有一根弹簧针，该能够保证与芯片管脚有效接触，但这种接触面积很小，长时间大电流时，发热严重，容易烧毁芯片，因此一般是采用专用设备给瞬时脉冲电流。采用此方案时，施加瞬时脉冲电流设备比较昂贵，同时需要配合相应的采集设备一起使用，整个系统设备多、电路结构复杂，引入测量干扰大。因此，该方案仍不属于最优方案，更不适用于产品长期老练试验。

发明创造内容

有鉴于此，为克服上述缺陷，本发明创造旨在提出一种霍尔电流传感器的原边大电流测试工装。

为达到上述目的，本发明创造的技术方案是这样实现的：

一种霍尔电流传感器的原边大电流测试工装，包括底座和上盖，所述底座的上表面设有用于霍尔电流传感器的放置位；

所述上盖在测试时设置于底座上方，所述上盖上设有贯穿上盖的上部仿形电流排和上部测试针，所述上部仿形电流排和上部测试针均为导体，所述上部仿形电流排的底部与霍尔电流传感器的原边针脚相对应，用于向原边针脚输入大电流，所述上部测试针的底部与霍尔电流传感器的信号针脚的上表面抵接。

进一步的，所述上盖与底座一端铰接；

上盖与底座之间还设有锁紧组件，通过锁紧组件实现上盖与底座折叠后的固定。

进一步的，所述锁紧组件包括设置于上盖两侧的锁紧板，上盖的两侧开有与锁紧板对应的竖向的条形槽，所述锁紧板设置于条形槽内，所述上盖的顶部向上延伸形成多个凸块，每个锁紧板对应设有两个凸块，同一侧的两个凸块之间设有连接轴，所述锁紧板上设有与连接轴对应的连接部，所述连接部上开有与连接轴对应的轴孔；

所述锁紧板通过连接轴与上盖铰接，所述连接轴上还设有与锁紧板对应的扭簧；

所述底座上也开有与锁紧板对应的条形槽，所述底座上设有与锁紧板对应的卡槽，所述锁紧板上设有与卡槽对应的卡块。

进一步的，所述上部测试针与上盖固定连接；