[实用新型]硅三维沟槽电极探测器有效

专利信息
申请号: 202122667267.4 申请日: 2021-11-02
公开(公告)号: CN216209942U 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 刘美萍;唐勇;何鑫;潘雪洋;刘文富 申请(专利权)人: 黄淮学院
主分类号: G01V3/00 分类号: G01V3/00
代理公司: 苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙) 32344 代理人: 王云峰
地址: 463100 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 三维 沟槽 电极 探测器
【权利要求书】:

1.硅三维沟槽电极探测器,其特征在于,包括横截面为六边形的二氧化硅保护层(5),所述二氧化硅保护层(5)上依次设有硅基体和外围电极(3),所述外围电极(3)为中空的直六棱柱状,所述硅基体包括基体部分(6)和嵌套部分(4),所述基体部分(6)设在二氧化硅保护层(5)与外围电极(3)之间,其横截面尺寸、外围电极(3)的横截面尺寸均与二氧化硅保护层(5)的横截面尺寸一致,所述嵌套部分(4)的一半横截面与外围电极(3)的横截面一致,另一半横截面为腰圆形的一半,内嵌在外围电极(3)内;

所述外围电极(3)内的二氧化硅保护层(5)上设有中心电极(2),所述外围电极(3)与中心电极(2)中间、外围电极(3)与嵌套部分(4)之间均填充有隔离硅体(1),所述隔离硅体(1)、中心电极(2)和外围电极(3)的高度一致;

所述中心电极(2)、外围电极(3)顶部均设有铝层(7),两个所述铝层(7)上均设有电极接触端口,所述隔离硅体(1)顶部设有二氧化硅保护层(5)。

2.根据权利要求1所述的硅三维沟槽电极探测器,其特征在于,所述隔离硅体(1)、中心电极(2)、外围电极(3)的高度均为300μm,所述基体部分(6)的高度为10μm,所述嵌套部分(4)的高度为20μm,所述铝层(7)和二氧化硅保护层(5)的厚度均为1μm;

所述外围电极(3)和中心电极(2)的厚度均为10μm,所述中心电极(2)横截面的长度为117μm,所述隔离硅体(1)的厚度为50μm。

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