[实用新型]抛光度分析仪布米机构

说明书

本实用新型涉及一种抛光度分析仪布米机构，包括安装架、振动器和振动米斗，其技术要点是：振动米斗的底面为平面，振动米斗的一侧设有倾斜向下的导流口，导流口下方承接有米粒流动盘，米粒流动盘倾斜布置，米粒流动盘的上表面均匀设有沿其长度方向延伸的长条形通槽组，米粒流动盘的下表面设有加热器，振动米斗的侧壁上设有海绵支撑体，振动米斗的上方悬设有下米管组件，下米管组件的下端边缘与海绵支撑体上表面贴合，下米管组件固定有硅胶垫且硅胶垫向导流口延伸，硅胶垫末端与振动米斗底面之间留有出米间隙。本机构解决了现有布米机构不适于分析仪实现长期连续监测的问题，实现连续均匀布米，显著提高分析仪检测精度，同时故障率低，制作成本低。

技术领域

本实用新型涉及大米等米粒加工精度检测设备，具体涉及一种抛光度分析仪布米机构。

背景技术

随着人们生活水平不断提高，人们对大米等农作物的品质和口感提出了更高的要求，品质优良、外表晶莹光滑的精米受到人们的普遍青睐。因此，大米抛光是大米精加工工艺流程中必不可少的一道工序。大米抛光是指糙米经过多机碾白后，去除碎米和糠片，经喷雾着水、润米后，进入抛光机的抛光室内，在一定的压力和温度下，通过摩擦使米粒表面上光。通过抛光处理，不仅可以清除米粒表面浮糠，还起到使米粒表面淀粉预糊化和胶质化的作用，淀粉糊化弥补裂纹，从而获得色泽晶莹光洁的外观质量，提高大米的储藏性能和实用品质。

抛光度分析仪是用来检测大米等米粒抛光度的设备，其主要由布米机构和检测机构组成，其中，布米机构是先行装置，是决定检测精度的前提条件，但现有的布米机构在工作过程中存在如下问题：1、均匀布米性不足，会存在叠粒的情况，降低了分析仪的检测精度；2、通常是布米机构在水平的承载面上方往复移动布米，然后承载面通过振动器振动使米粒再均匀分布，最后图像检测机构采集图像后，承载面翻转倒米，布米机构再次布米，这种工作方式需要多个驱动机构作辅助，布米效率低，且故障率高；3、布米和图像采集不能同时进行，则不适于连续性布料检测，布米量有限，不适于分析仪实现长期连续监测；4、随米粒落于承载面上方的米垢容易附着于承载面，积累过多后无法轻易卸除，影响后期检测结果。

发明内容

本实用新型的目的是为了一种结构合理、使用可靠的抛光度分析仪布米机构，解决现有布米机构不适于分析仪实现长期连续监测的问题，实现连续均匀布米，显著提高分析仪检测精度，同时故障率低，制作成本低。

本实用新型的技术方案是：

一种抛光度分析仪布米机构，包括安装架、设于安装架上的振动器、与振动器连接的振动米斗，其技术要点是：所述振动米斗的底面为平面，振动米斗的一侧设有倾斜向下的导流口，所述导流口下方承接有米粒流动盘，所述米粒流动盘倾斜布置，米粒流动盘的上表面均匀设有沿其长度方向延伸的长条形通槽组，米粒流动盘的下表面设有加热器，所述振动米斗的侧壁上设有海绵支撑体，振动米斗的上方悬设有下米管组件，所述下米管组件的下端边缘与海绵支撑体上表面贴合，所述下米管组件朝向导流口侧固定有硅胶垫且硅胶垫向导流口延伸，所述硅胶垫末端与振动米斗底面之间留有出米间隙。

上述的抛光度分析仪布米机构，所述下米管组件包括下米管、与下米管下端连接且与支撑海绵体接触的底座、固定于下米管外侧的定位法兰，所述底座与振动米斗的侧壁和底面之间形成半包围落米区域，半包围落米区域的敞口侧朝向导流口，所述硅胶垫与底座连接固定，所述定位法兰用于与布米机构所在分析仪框架连接固定。

上述的抛光度分析仪布米机构，所述振动器包括振动器主体、固定于振动器主体上的前、后支板、固定于前、后支板顶端的支撑台，所述前、后支板采用塑性材料制成，所述振动米斗的底部焊接有过渡连接架，所述过渡连接架底部与支撑台连接固定，所述振动器主体底部与安装架上表面之间设有多个缓冲弹簧。