[实用新型]测试装置

说明书

本实用新型提出一种测试装置，用于测试电路板。测试装置包括底座、测试治具、两运动组件、两探针组件及检测模组。测试治具设于底座，两运动组件均与底座滑动连接，每一探针组件分别转动连接于一运动组件，并位于两运动组件相对的侧面；检测模组与两探针组件均电连接，接收两探针组件的检测信号。本实用新型通过两运动组件分别带动两探针组件运动至电路板的第一检测点和第二检测点，以使两探针组件分别与第一检测点和第二检测点接触，检测模组用于接收两探针组件的检测信号，并对检测信号进行分析以得到电路板的测试结果，采用两探针组件配合所连接的检测装置完成对电路板的检测，降低了测试难度，提高了检测效率。

技术领域

本实用新型涉及电路板检测技术领域，尤其涉及一种测试装置备。

背景技术

电路板作为电子类产品的核心部件之一，对电路板进行测试是判断电路板好坏的关键步骤。

电子类产品中又以智能手机或微电子设备类的电路板因其体积小，测试点密集，目前多采用人工的方式进行检测。然而，人工检测方式测试难度大且测试效率低。

实用新型内容

鉴于以上内容，有必要提出一种测试装置，以解决如何降低电路板测试难度、提高测试效率的技术问题。

本实用新型实施例提供一种测试装置，用于测试电路板，测试装置包括：

底座；

测试治具，设于所述底座，所述测试治具用于固定所述电路板；

两运动组件，均与所述底座滑动连接；

两探针组件，每一所述探针组件分别转动连接于一所述运动组件，并位于两所述运动组件相对的侧面，两所述运动组件用于分别驱动两所述探针组件运动至所述电路板的第一检测点和第二检测点，以使两所述探针组件分别与所述第一检测点和所述第二检测点接触；和

检测模组，与两所述探针组件均电连接，用于接收两所述探针组件的检测信号，并分析所述检测信号以得到所述电路板的测试结果。

上述测试装置中，电路板被固定在测试治具上，两运动组件分别带动两探针组件运动至电路板的第一检测点和第二检测点，以使两探针组件分别与第一检测点和第二检测点接触，检测模组接收两探针组件的检测信号，并对检测信号进行分析以得到电路板的测试结果，采用两探针组件配合所连接的检测装置完成对电路板的检测，降低了测试难度，提高了检测效率。

在一些实施例中，所述探针组件包括转动驱动件和探针，所述转动驱动件包括固定部和在所述固定部内转动设置的旋转部，所述固定部连接于所述运动组件，所述旋转部连接所述探针。

如此，通过将探针组件的固定部连接于运动组件，以在运动组件带动探针组件移动，并将探针组件的探针连接于旋转部，以在旋转部的旋转下，带动探针的倾斜角度进行调节，以实现探针组件对电路板上不同倾斜角度的目标检测点进行测试。

在一些实施例中，所述旋转部的旋转轴与所述运动组件的运动方向平行。

如此，通过将旋转部的旋转轴与运动组件的运动方向平行，以使运动组件带动探针组件的移动方向和旋转轴带动探针旋转方向不存在干涉，以实现探针组件测试电路板的顺利进行。

在一些实施例中，所述测试装置还包括射频探针，所述射频探针连接于一所述旋转部，并与所述探针间隔设置。

如此，通过设置射频探针，并将射频探针连接于一旋转部，以实现利用单一射频探针即可实现对电路板进行测试。

在一些实施例中，所述测试治具包括治具主体和旋转组件，所述治具主体设于所述旋转组件上，所述旋转组件与所述底座连接，并用于驱动所述治具主体旋转，所述治具主体用于固定所述电路板。