[实用新型]一种验证I2C隔离芯片信短路测试的夹具

说明书

一种验证I2C隔离芯片信短路测试的夹具。本产品其组成包括:PCB板，PCB板上固定I2C隔离芯片座子，I2C隔离芯片座子焊接I2C隔离芯片，I2C隔离芯片的1管脚连接电阻R1，电阻R1连接电容C1和电阻R7，电阻R7连接三极管Q2，I2C隔离芯片座子的2管脚连接电阻R2，I2C隔离芯片座子的3管脚连接电阻R3，电阻R3连接电阻R4和三极管Q1，I2C隔离芯片座子的5管脚连接电阻R5，I2C隔离芯片座子的6管脚连接电阻R6，电阻R6连接三极管Q2，I2C隔离芯片座子的6管脚连接电阻R1,电容C1连接电源Vcc。本实用新型用于验证I2C隔离芯片信短路测试。

技术领域：

本实用新型涉及一种验证I2C隔离芯片信短路测试的夹具。

背景技术：

为了保证I2C隔离芯片能正常工作，需要验证当短路时芯片不会烧毁，短路结束后又能正常工作的能力，就需要该夹具板电路进行验证，如何能够完成两项验证是需要解决的问题。

发明内容：

本实用新型的目的是提供一种通过I2C隔离芯片焊接到I2C隔离芯片座子上进行验证，具有I2C隔离芯片信在短路和开路状态下芯片能否正常工作能力的一种验证I2C隔离芯片信短路测试的夹具。

上述的目的通过以下的技术方案实现：

一种验证I2C隔离芯片信短路测试的夹具，其组成包括:PCB板，所述的 PCB板上固定I2C隔离芯片座子，所述的I2C隔离芯片座子焊接I2C隔离芯片，所述的I2C隔离芯片的1管脚连接电阻R1，所述的电阻R1连接电容C1和电阻R7，所述的电阻R7连接三极管Q2，所述的I2C隔离芯片座子的2管脚连接电阻R2，所述的I2C隔离芯片座子的3管脚连接电阻R3，所述的电阻R3连接电阻R4和三极管Q1，所述的I2C隔离芯片座子的5管脚连接电阻R5，所述的I2C隔离芯片座子的6管脚连接电阻R6，所述的电阻R6连接所述的三极管Q2，所述的I2C隔离芯片座子的6管脚连接所述的电阻R1,所述的电容C1连接电源Vcc。

所述的一种验证I2C隔离芯片信短路测试的夹具，所述的I2C隔离芯片座子为8个管脚，将待测试I2C隔离芯片焊接在所述的I2C隔离芯片座子的上面， 1管脚为芯片1OE管脚，为使能管脚，由外部电路控制输入，低电平有效，通过电阻R1上拉到3.3V，2管脚为芯片1A输入管脚，由外部电路输入I2C隔离芯片的SCL时钟信，通过电阻R2串联，3管脚为芯片1B输出管脚，通过电阻R3串联输出到外部电路，并通过电阻R4上拉到3.3V，4管脚为芯片接地管脚，5管脚为芯片2A输入管脚，由外部电路输入I2C隔离芯片座子的SDA 数据信，通过电阻R5串联，6脚为芯片2B输出管脚，通过电阻R6串联输出到外部电路，并通过电阻R7上拉到3.3V，7管脚为芯片2OE管脚，也为使能管脚，和1管脚相连接，8管脚为芯片VCC管脚，芯片供电管脚，输入3.3V 电压，并通过电容C1电容滤波。

所述的一种验证I2C隔离芯片信短路测试的夹具，所述的三极管Q1、三极管Q2的发射极通过导线分别连接到I2C隔离芯片的3管脚和6管脚串联的电阻 R3和电阻R6，集电极和地相连接，基极由controlA(控制信号A)和controlB (控制信号B)控制，由外部电路控制高电平或者低电平，此处三极管Q1、三极管Q2作为开关使用，当外部输入高电平时，三极管导通，将I2C隔离芯片的3管脚和6管脚和地短路，当外部输入低电平时，三极管Q1、三极管Q2断开，将I2C隔离芯片的3管脚和6管脚和地断开。

有益效果：

1.本实用新型能够验证I2C隔离芯片信短路时功能是否失效，短路结束后功能是否正常，以及I2C电路能否正常工作。

2.本实用新型实现起来容易，能够验证I2C隔离芯片信号在短路和开路状态下芯片能否正常工作的能力。

3.本实用新型成本低廉，极具性价比。

附图说明：

附图1是本产品的电路原理图。

具体实施方式：