[实用新型]一种便于更换针头的ICT测试探针

说明书

本实用新型公开了一种便于更换针头的ICT测试探针，涉及测试探针技术领域，包括：主体；限位套筒，位于主体的一侧；对接机构，设置在限位套筒的一侧，且与主体、限位套筒相互套接，用于对主体、限位套筒进行便捷连接；调节机构，设置在限位套筒远离主体的一端，且贯穿限位套筒至对接机构的内部。本实用新型通过设置对接机构，此机构可实现对针头的便捷更换，通过将主体贯穿对接转筒至连接滑筒的一侧外壁，并通过限位单板限位滑动，同时将密封圈套接在针身的一侧外壁，并将对接转筒与针身相互套接，同时使得对接转筒与密封圈套接，然后固定套筒通过螺纹槽与对接转筒旋转套接，从而实现对针头的便捷更换，并通过密封圈避免对接转筒的脱落。

技术领域

本实用新型涉及测试探针技术领域，具体是一种便于更换针头的ICT测试探针。

背景技术

精密测试探针是精密电测试过程中必不可少的部件，在电子电路研发和生产的过程中，经常需要对信号的通断以及质量进行测试分析，这个时候就需要使用精密测试探针将信号无损的接取出来提供给相应的ICT或者测试系统进行整合分析，测试探针质量的好坏，很大程度影响了测试的准确性以及可重复性。

现有部分测试探针在使用时通过弹簧对针头进行缓冲，有效达到降低针头磨损程度的效果，但长时间使用后，由于测试探针针身过细导致无法对针头进行便捷更换，并且由于针头的缓冲距离是固定，导致无法按使用需求的不同对缓冲距离进行调节使用。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种便于更换针头的ICT测试探针，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种便于更换针头的ICT测试探针，包括：

主体；

限位套筒，位于主体的一侧；

对接机构，设置在限位套筒的一侧，且与主体、限位套筒相互套接，用于对主体、限位套筒进行便捷连接；

调节机构，设置在限位套筒远离主体的一端，且贯穿限位套筒至对接机构的内部，用于对主体的缓冲移动间距进行调节限位。

作为本实用新型再进一步的方案：所述对接机构包括缓冲弹簧、固定套筒、对接转筒、连接滑筒、针身、密封圈以及限位单板，所述针身位于限位套筒的一侧，且贯穿至限位套筒的内部，所述固定套筒位于限位套筒的一侧，且与针身固定套接，所述密封圈位于固定套筒远离限位套筒的一侧，且与针身相互套接，所述对接转筒位于限位套筒的一侧，且贯穿至固定套筒的内部，并与针身、密封圈相互套接，所述连接滑筒固定在对接转筒远离限位套筒的一侧，且与主体相互套接，所述限位单板固定在主体的一端，且位于连接滑筒的内部，所述缓冲弹簧位于限位单板远离主体的一侧，且位于针身的内部。

作为本实用新型再进一步的方案：所述调节机构包括调节滑槽、限位滑杆、移动转板、伸缩推杆以及按压推板，所述按压推板位于缓冲弹簧远离限位单板的一侧，且与针身相互套接，所述伸缩推杆固定在按压推板远离缓冲弹簧的一侧，且贯穿至针身的一侧，所述移动转板固定在伸缩推杆远离按压推板的一端，且与限位套筒相互套接，所述调节滑槽设置在限位套筒远离主体的一侧外壁，所述限位滑杆固定在移动转板的一端，且与调节滑槽相互套接。

作为本实用新型再进一步的方案：所述连接滑筒与限位单板、主体相接位置处设置有与其外壁相互匹配的限位插槽，所述针身与密封圈相接位置处设置有与其外壁相互匹配的连接套槽。

作为本实用新型再进一步的方案：所述针身与对接转筒相接位置处设置有与其外壁相互匹配的限位滑槽，所述固定套筒与对接转筒相接位置处设置有与其外壁相互匹配的螺纹槽。

作为本实用新型再进一步的方案：所述针身与伸缩推杆、按压推板相接位置处设置有与其外壁相互匹配的限位压槽，所述限位套筒与针身相接位置处设置有与其外壁相互匹配的固定插槽。