[实用新型]一种用于微晶电子衍射测试的粉末样品制备装置

权利要求书

1.一种用于微晶电子衍射测试的粉末样品制备装置，其特征在于，包括：

样本承载台，设有依次连通的管道（5），用于容纳粉末样品的样品槽（6），和喷气针孔（7）；

所述管道（5）的前端设置有载网槽（4），所述载网槽（4）用于容纳载网（10），所述载网槽（4）与所述管道（5）连通；

所述喷气针孔还用于与喷气设备对接。

2.根据权利要求1所述的粉末样品制备装置，其特征在于，还包括用于固定载网的载网槽盖（3），所述载网槽（4）设于所述载网槽盖（3）上、所述载网槽盖（3）与所述管道（5）之间的连接部上、或由所述载网槽盖（3）的端面和所述样本承载台的端面围合而成。

3.根据权利要求2所述的粉末样品制备装置，其特征在于，所述载网槽（4）设于所述载网槽盖（3）与所述管道（5）之间的连接部的端面，由所述载网槽盖（3）端面与所述连接部端面围合而成，所述连接部设有与载网槽（4）连通的第二孔道，所述第二孔道与所述管道（5）连通。

4.根据权利要求2所述的粉末样品制备装置，其特征在于，所述载网槽盖（3）与所述样本承载台之间通过卡扣（1）连接固定；所述载网槽盖（3）的前端设有供握持的手柄（2）；所述样品槽（6）为凹槽，所述凹槽上承载粉末样品的面为弧面。

5.根据权利要求1所述的粉末样品制备装置，其特征在于，所述载网槽（4）设于所述样品承载台上，所述载网槽（4）、管道（5）、样品槽（6）、喷气针孔（7）依次连通。

6.根据权利要求1所述的粉末样品制备装置，其特征在于，所述载网槽（4）的深度与载网（10）的厚度适配；所述载网槽（4）中与载网（10）接触的底边或底面与水平面的夹角为a，30°＜a＜75°；所述载网槽（4）中用于容纳载网（10）的部分为斜柱形或斜台形；所述载网（10）放置在载网槽（4）后的圆心/中心与管道出气口的中心轴重合。

7.根据权利要求1或5所述的粉末样品制备装置，其特征在于，所述样品槽（6）的表面或侧边有刻度标识（61）。

8.根据权利要求1所述的粉末样品制备装置，其特征在于，所述样品槽（6）的上部设有可开合的样品槽盖，用于封闭样品槽上部的开放空间；还包括底座（9），所述底座（9）设置在所述样本承载台的底部；所述样本承载台的四周设有螺孔，所述底座（9）与所述样本承载台通过螺钉（8）连接。