[实用新型]一种用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱

权利要求书

1.一种用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：

包括三个端子PUD1-1、PUD1-2、PUD1-3、三个端子PUD2-1、PUD2-2、PUD2-3、六个电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6、六个接触器QF1、QF2、QF3、QF4、QF5、QF6，以及控制器；

所述三个端子PUD1-1、PUD1-2、PUD1-3，分别用于连接外部第一路PDU的三个插座；

所述三个端子PUD2-1、PUD2-2、PUD2-3，分别用于连接外部第二路PDU的三个插座；

所述端子PUD2-1与端子PUD1-1的L线相连形成接点L1、N线相连形成接点N1，且端子PUD2-1与端子PUD1-1互锁，所述端子PUD2-2与端子PUD1-2的L线相连形成接点L2、N线相连形成接点N2，且端子PUD2-2与端子PUD1-2互锁，所述端子PUD2-3与端子PUD1-3的L线相连形成接点L3、N线相连形成接点N3，且端子PUD2-3与端子PUD1-3互锁；

所述接点L1串联接触器QF6、电阻R6至接点N1，接点L2一方面串联接触器QF5、电阻R5至接点N2，另一方面串联接触器QF4、电阻R4至接点N2，接点L3分成三路，其中第一路串联接触器QF3、电阻R3至接点N3，第二路串联接触器QF2、电阻R2至接点N2，第三路串联接触器QF1、电阻R1至接点N1；

所述六个电阻R1、R2、R3、R4、R5、R6的阻值比例为4：4：2：2：2：1，所述六个接触器QF1、QF2、QF3、QF4、QF5、QF6分别连接所述控制器。

2.如权利要求1所述的用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：电阻R1、R2的阻值为105.8欧，电阻R3、R4、R5的阻值为52.9欧，电阻R6的阻值为26.5欧。

3.如权利要求1所述的用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：

端子PUD2-1与端子PUD1-1之间的互锁由互锁电路实现，所述互锁电路包含接触器SA1、接触器SA2、接触器SA3、接触器SA4、时间继电器KT1、时间继电器KT2、常开开关SB1、常开开关SB2、继电器KM1、继电器KM2；

端子PUD1-1的L线依次经接触器SA1、继电器KM2的常闭触点、时间继电器KT1的线圈连接至端子PUD1-1的N线，端子PUD1-1的L线依次经接触器SA2、常开开关SB1、继电器KM1的线圈连接至PUD1-1的N线，继电器KM1的常开触点与常开开关SB1并联，端子PUD1-1的L线经时间继电器KT1的常开延时闭合触点连接至继电器KM1的线圈与常开开关SB1之间的接点；

端子PUD2-1的L线依次经接触器SA3、继电器KM1的常闭触点、时间继电器KT2的线圈连接至端子PUD2-1的N线，端子PUD2-1的L线依次经接触器SA4、常开开关SB2、继电器KM2的线圈连接至PUD2-1的N线，继电器KM2的常开触点与常开开关SB2并联，端子PUD2-1的L线经时间继电器KT2的常开延时闭合触点连接至继电器KM2的线圈与常开开关SB2之间的接点；

时间继电器KT1的延时时间短于时间继电器KT2；

接触器SA1、接触器SA2、接触器SA3、接触器SA4分别连接所述控制器。

4.如权利要求3所述的用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：

端子PUD2-2与端子PUD1-2之间的互锁和/或端子PUD2-3与端子PUD1-3之间的互锁也由互锁电路实现，其该互锁电路的拓扑结构与端子PUD2-2与端子PUD1-2之间的互锁电路相同。

5.如权利要求3所述的用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：常开开关SB1、常开开关SB2为点动开关。

6.如权利要求3所述的用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：接触器SA1、接触器SA2、接触器SA3、接触器SA4分别为四开关接触器的四个开关。

7.如权利要求1所述的用于PDU测试的多回路数据中心测试负载箱，其特征在于：

还包括分别连接控制器的三开关接触器K1以及电流互感器CT；

三开关接触器K1的三个开关同步关断，且分别串联于接点L1、接点L2、接点L3处的线路上；

电流互感器CT同步采集接点L1、接点L2、接点L3处的电流至所述控制器。