[实用新型]一种用于晶圆老化测试的烘烤装置有效
申请号: | 202122929745.4 | 申请日: | 2021-11-26 |
公开(公告)号: | CN216285594U | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 杨凯翔 | 申请(专利权)人: | 广东万维半导体技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区布吉*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 老化 测试 烘烤 装置 | ||
1.一种用于晶圆老化测试的烘烤装置,包括设备主体(1),其特征在于:所述设备主体(1)内对称安装有两个烘烤支架(2),所述烘烤支架(2)包含基板(7)和放置板(8),所述放置板(8)有若干个且均匀设置在基板(7)的内端,其中一个所述基板(7)的内端对称安装有两个一号连接板(3),两个所述一号连接板(3)内均安装有一个限位柱(9),另一个所述基板(7)的内端对称安装有两个二号连接板(4),两个所述二号连接板(4)上均对称安装有两个固定结构(5),所述固定结构(5)包含按压板(16)以及固定卡块(19),所述固定卡块(19)设置在按压板(16)的外端,四个所述按压板(16)的内端均对称设置有两个推动弹簧(14)。
2.根据权利要求1所述的一种用于晶圆老化测试的烘烤装置,其特征在于:所述设备主体(1)上安装有防护门(6)。
3.根据权利要求1所述的一种用于晶圆老化测试的烘烤装置,其特征在于:两个所述烘烤支架(2)为相互独立设置。
4.根据权利要求1所述的一种用于晶圆老化测试的烘烤装置,其特征在于:两个所述一号连接板(3)均通过螺钉固定安装在基板(7)的内端,两个所述一号连接板(3)均为U形结构,两个所述一号连接板(3)的内壁上均对称开设有若干个固定卡槽(10)。
5.根据权利要求1所述的一种用于晶圆老化测试的烘烤装置,其特征在于:两个所述二号连接板(4)均通过螺钉固定安装在基板(7)的内端,所述二号连接板(4)包含基杆(11)、连接杆(12)以及防脱板(13),所述连接杆(12)有四个且对称设置在基杆(11)的前后两端,所述防脱板(13)有四个且分别设置在四个连接杆(12)的外端,所述基杆(11)的内端开设有安装盲孔(15),所述基杆(11)通过其上开设的安装盲孔(15)安装在限位柱(9)上。
6.根据权利要求5所述的一种用于晶圆老化测试的烘烤装置,其特征在于:四个所述固定结构(5)上的四个按压板(16)的外端均对称开设有两个收纳槽(17),四个所述按压板(16)的内端均对称开设有两个通孔(18),所述通孔(18)将按压板(16)的内端和收纳槽(17)贯穿,所述固定卡块(19)嵌入在一号连接板(3)内壁上开设的固定卡槽(10)内,所述按压板(16)通过其上开设的收纳槽(17)、通孔(18)滑动安装在连接杆(12)、防脱板(13)上,所述推动弹簧(14)套设在连接杆(12)上。
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