[实用新型]一种针脚缺陷检测装置

说明书

本实用新型公开了一种针脚缺陷检测装置，包括视觉检测设备、相对设置的第一光源和第二光源，第一光源和第二光源之间放置具有针脚的待检测物品；第一光源包括第一发光元件和第一光学元件，第一光学元件用于将第一发光元件的出光整形为第一线条状光，并照射针脚以形成第一高亮轮廓线；第二光源包括第二发光元件和第二光学元件，第二光学元件用于将第二发光元件的出光整形为第二线条状光，并照射针脚以形成第二高亮轮廓线；第一高亮轮廓线和第二高亮轮廓线组成轮廓线图形；视觉检测设备用于获取轮廓线图形，并根据轮廓线图形的形状与预设形状的比较结果，判断针脚的缺陷类型。本实用新型检测过程更加简单，实现难度更低，综合检测成本更低。

技术领域

本实用新型属于针脚缺陷检测技术领域，尤其涉及一种针脚缺陷检测装置。

背景技术

随着社会的发展，对电子设备的需求不断的增加，由此而衍生出对快速、高效的生产集成电路的要求。在快速生产集成电路的过程中非常容易因为某些外在的因素而导致元器件的针脚倾斜，若集成电路板上的针脚存在这种缺陷，将会导致产品不能使用或者影响使用寿命，因此，在集成电路的生产过程中，对元器件针脚的倾斜缺陷检测显得尤为必要。

目前企业在进行电路板元器件的针脚倾斜缺陷检测主要采用人工目测方式，该方式不仅存在劳动强度大、效率低的问题，而且工作人员在长时间高强度的工作中极容易出现疏漏，从而影响针脚倾斜缺陷检测的最终结果。目前也有一些基于机器视觉的针脚倾斜缺陷检测方法，但其图像处理和计算过程比较复杂，导致实现难度较大、综合检测成本较高，不利于推广使用。

实用新型内容

本实用新型提供了一种针脚缺陷检测装置，可以解决或者至少部分解决上述技术问题。

为此，本实用新型采用以下技术方案：

一种针脚缺陷检测装置，包括视觉检测设备、相对设置的第一光源和第二光源，所述第一光源和所述第二光源之间放置具有针脚的待检测物品；

所述第一光源包括第一发光元件和第一光学元件，所述第一光学元件用于将所述第一发光元件的出光整形为第一线条状光，并照射所述针脚以形成第一高亮轮廓线；

所述第二光源包括第二发光元件和第二光学元件，所述第二光学元件用于将所述第二发光元件的出光整形为第二线条状光，并照射所述针脚以形成第二高亮轮廓线；所述第一高亮轮廓线和所述第二高亮轮廓线组成轮廓线图形；

所述视觉检测设备用于获取所述轮廓线图形，并根据所述轮廓线图形的形状与预设形状的比较结果，判断所述针脚的缺陷类型。

可选地，所述第一光学元件和所述第二光学元件均为环形透镜。

可选地，所述环形透镜的宽度大于所述针脚分布的宽度。

可选地，所述第一发光元件和所述第二发光元件均为LED灯。

可选地，所述视觉检测设备包括用于获取所述轮廓线图形的CCD或CMOS相机。

可选地，所述第一线条状光和所述第二线条状光平行并且重合，所述第一线条状光和所述第二线条状光同时或者依次照射所述针脚。

可选地，所述第一线条状光和所述第二线条状光平行但不重合，所述第一线条状光和所述第二线条状光依次照射所述针脚。

与现有技术相比，本实用新型实施例具有以下有益效果：