[实用新型]一种测量治具

说明书

本实用新型公开了一种测量治具，涉及测量治具技术领域，包括治具本体和基座，所述基座位于治具本体的底端，基座的上端连接有测量片，而测量片远离基座的一端连接有透镜片，通过基座边缘区域设计的缺口部，可以用于拆卸测量片以及透镜片，镂空部用于覆盖待检测产品，而采用叠层安装的测量片以及透镜片，可以用于不同产品尺寸的测量片安装以及不用倍数的透镜片安装，单颗产品测量区域限定产品贴装区域，当超出此区域时为坏品，透镜片选择用低倍放大镜片制成，透镜边放置于测量片上方，其到低倍放大镜功能，用于检测放大检测底部镂空部产品，可以省去普通检测中需要使用低倍放大镜检测产品缺陷.其检测手段更为方便。

技术领域

本实用新型涉及测量治具技术领域，特别是一种测量治具。

背景技术

随着半导体行业的快速发展，硅麦产品芯片的封装过程.需要贴装金属盖以及金属盖上打印印章，每条基板上通常贴装有几百上千个金属盖，针对这些贴装后的金属盖产品以及打印印章后的产品，检验员再进行自检时需要借助放大镜逐一比对每颗产品贴装位置以及印章位置，此种检测方式给检验员带了大量的时间以精力，而且准确率不高，如今许多现有测量治具无透镜功能，并且无法实现更好不同尺寸的测量片，现提出一种检测治具，改善此问题。

实用新型内容

本部分的目的在于概述本实用新型的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和实用新型名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和实用新型名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本实用新型的范围。

鉴于上述和/或现有的一种测量治具中存在的问题，提出了本实用新型。

因此，本实用新型所要解决的问题在于如何提供一种测量治具。

为解决上述技术问题，本实用新型提供如下技术方案：一种测量治具，包括治具本体和基座，所述基座位于治具本体的底端，基座的上端连接有测量片，而测量片远离基座的一端连接有透镜片；

所述基座的中间开设有镂空部，而基座的两侧对称开设有缺口部，并且基座的四角上端还焊接有定位件。

基于上述技术特征：镂空部用于覆盖待检测产品，而采用叠层安装的测量片以及透镜片，可以用于不同产品尺寸的测量片安装以及不用倍数的透镜片安装，通过测量片设计的定位孔以及测量产品区域，可以不同产品尺寸选择更换不同的测量片进行测量，单颗产品测量区域限定产品贴装区域，当超出此区域时为坏品，透镜片选择用低倍放大镜片制成，透镜边放置于测量片上方，其到低倍放大镜功能，用于检测放大检测底部镂空部产品，可以省去普通检测中需要使用低倍放大镜检测产品缺陷.其检测手段更为方便，通过基座边缘区域设计的缺口部，可以用于拆卸测量片以及透镜片。

作为本实用新型所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述定位件包括焊接在基座四角上端的定位柱，定位柱的中间开设有凹槽。

基于上述技术特征：定位柱用于上层测量片以及透镜片的安装，使二者可以叠加固定。

作为本实用新型所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述所述凹槽的一侧连接有第一抵紧板，而凹槽远离第一抵紧板的一侧连接有第二抵紧板。

基于上述技术特征：当对第一定位孔和第二定位孔贯穿后，定位柱中间将通过两侧的第一抵紧板和第二抵紧板对孔的内壁进行抵紧，避免定位柱贯穿第一定位孔和第二定位孔内侧后，二者之间的缝隙过大出现松动。

作为本实用新型所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述所述第一抵紧板与第二抵紧板呈半弧形对称状安装，并且二者与凹槽相匹配。

基于上述技术特征：呈半弧形设计可以使第一抵紧板与第二抵紧板贴合在孔的内壁上，当第一抵紧板与第二抵紧板被挤压时，二者将回缩到凹槽的内侧。

作为本实用新型所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述第一抵紧板与第二抵紧板的一侧连接有弹性件，并且二者通过弹性件与凹槽的内壁相连接。