[实用新型]一种光敏芯片制品测试工装

说明书

本实用新型提供一种光敏芯片制品测试工装，包括底座、插座、PCB、自动测试装置和手动测试装置；底座上设有放置槽；放置槽内设有透光片；底座内对应透光片的底部设有光源；插座的一端设有PIN针；PIN针位于放置槽的一端；PCB安装在底座上方；PCB上设有光源开关、四个手动检测开关、电源接线柱、皮安表接线柱和跳线；自动测试装置包括测试主机、自动测试插头和自动测试开关；测试主机分别与PCB、自动测试插头以及自动测试开关电连接；手动测试装置包括电源、皮安表和手动测试插头；手动测试插头与PCB电连接；手动测试插头与自动测试插头择一安装在PIN针上方；体现出本实用新型可灵活切换手动与自动对光敏芯片制品进行测试，方便使用。

技术领域

本实用新型涉及检测治具技术领域，特别涉及一种光敏芯片制品测试工装。

背景技术

光敏芯片制品的上方具有四组光敏芯片，底部具有六个触点，分别为A1、A2、A3、B1、B2和B3，其中A1与B1为输入触点，A2、A3、B2、B3分别为与四组光敏芯片电连接的输出触点，以往的测试工装有自动的测试工装与手动的测试工装，如果采用自动的测试工装，只采用手动测试工装会费时费力，效率低下，而只采用自动测试工装，自动测试工装有可能在测试时出现误差，在测试后需要把不良品在手动测试一遍，因此还是需要一套手动测试工作配合使用，因此需要备两套测试工作，而且使用复杂，不利于人工操作。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种光敏芯片制品测试工装以解决背景技术中提及问题。

为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种光敏芯片制品测试工装，包括底座、插座、PCB、自动测试装置和手动测试装置；所述底座上设有放置槽；所述放置槽内设有透光片；所述底座内对应透光片的底部设有光源；所述光源与PCB电连接；所述插座设置在放置槽旁侧；所述插座的一端设有PIN针；所述PIN针位于放置槽的一端；所述PCB安装在底座上方；所述PCB上设有光源开关、四个手动检测开关、电源接线柱、皮安表接线柱和跳线；PCB上具有用于跳线安装的手动接线位和自动接线位；所述自动测试装置包括测试主机、自动测试插头和自动测试开关；所述测试主机分别与PCB、自动测试插头以及自动测试开关电连接；所述手动测试装置包括电源、皮安表和手动测试插头；所述电源可与电源接线柱连接；所述皮安表可与皮安表接线柱连接；所述手动测试插头与PCB电连接；所述手动测试插头与自动测试插头择一安装在PIN针上方。

对本实用新型的进一步描述，所述测试主机与PCB之间通过排线连接；所述自动测试插头与自动测试开关的电线集成在排线上与测试主机连接。

对本实用新型的进一步描述，所述插座设置在放置槽的后侧；所述插座的前端位于放置槽后端的上方；所述PIN针具有六个，横向排列安装在插座的前端。

对本实用新型的进一步描述，所述插座后端的上方设有过线部；所述手动测试插头上的电线穿设过过线部连接至PCB上。

对本实用新型的进一步描述，所述插座的中部与底座铰接，后端通过弹簧与底座连接。

本实用新型的有益效果为：

光敏芯片制品的正面朝下放入放置槽中，光敏芯片制品背面的触点位于插座的PIN针下方，并与PIN针对应接触，根据需求选用自动测试方式或者手动测试方式，自动测试时，将自动测试插头插入插座的PIN针上方，跳线接入自动接线位，按压自动测试开关后，则可通过测试主机对光敏芯片制品进行自动检测，手动测试时，将自动测试插头拔出，接入手动测试插头，跳线接入手动接线位，电源接入电源接线柱，皮安表接入皮安表接线柱，手动通过光源开关控制电源的开与关，然后依次按动四个手动检测开关，则可逐个对四组光敏芯片进行检测，因此在自动测试出现误差时，也可调为手动检测方式逐个测量，自动测试方便快捷，手动测试准确，两种方式根据实际需求配合使用，测试灵活，方便，而且光源设置在了底座内，经过透光片射入光敏芯片制品的受光面，防止在外接不稳定的光下测光电流，测试结果更加准确。

附图说明