[实用新型]一种芯片测试系统有效
| 申请号： | 202123105512.9 | 申请日： | 2021-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN216622597U | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 陈波 | 申请（专利权）人： | 湖南普奇水环境研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G05B19/042 |
| 代理公司： | 长沙智勤知识产权代理事务所(普通合伙) 43254 | 代理人： | 李威 |
| 地址： | 410000 湖南省长沙市开福区青竹湖*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 | ||
1.一种芯片测试系统，其特征在于，包括：
发生模块，用于产生被测芯片不同频率的测试信号；
选择模块，用于选择所需的所述测试信号的频率和幅值；
执行模块，用于控制对比信号的放大倍数，然后将放大后所述对比信号的幅值与选择的所述测试信号的幅值进行对比并判断；
控制模块，用于控制所述发生模块、所述选择模块以及所述执行模块；
电源模块，用于为所述发生模块、所述选择模块、所述执行模块以及所述控制模块供电。
2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统还包括显示模块，所述显示模块用于显示所述执行模块的判断结果。
3.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述发生模块采用两个型号分别为AD9833和MCP41010的芯片。
4.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述选择模块采用型号为4052的芯片。
5.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述控制模块采用型号为STM32F103C8T6的单片机。
6.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，所述电源模块采用两个型号均为MP2359的芯片。
7.如权利要求1至6任意一项所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统还包括外壳，所述发生模块、所述选择模块、所述执行模块、所述控制模块以及所述电源模块均设置在所述外壳内。
8.如权利要求1至6任意一项所述的芯片测试系统，其特征在于，所述芯片测试系统还包括测试座，所述测试座上设置有可拆卸安装所述被测芯片的安装槽，所述安装槽内设置有与所述发生模块电连接的连接部，当所述被测芯片安装在所述安装槽内时，所述被测芯片与所述连接部电连接。
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