[实用新型]半导体刷检测试大盘

说明书

本实用新型提供了一种半导体刷检测试大盘，涉及半导体刷检技术领域。所述测试大盘包括：窄盘组件和宽盘组件；窄盘组件设置在测试大盘中段；宽盘组件设置在窄盘组件两端，不影响短二极管与窄盘组件限位配合；宽盘组件的径向尺寸大于窄盘组件，使得长二极管两端的引线与宽盘组件限位配合时，中段部位不会磕碰窄盘组件；因此测试大盘能够搭载多种长度的二极管进行测试，省去了更换测试大盘和调试过程，提高了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及半导体刷检技术领域，具体涉及一种半导体刷检测试大盘。

背景技术

半导体二极管是指利用半导体特性的两端电子器件。最常见的半导体二极管是PN结型二极管和金属半导体接触二极管。它们的共同特点是伏安特性的不对称性，即电流沿其一个方向呈现良好的导电性，而在相反方向呈现高阻特性。可用作为整流、检波、稳压、恒流、变容、开关、发光及光电转换等。

半导体二极管在制造完成后需要进行工作稳定性测试，目前的测试方式大多是利用测试大盘带动二极管在传输过程中与测试片发生瞬间接触来进行测试。

目前的测试大盘只能对一种尺寸的半导体二极管进行传输，但是在半导体二极管的刷检测试过程中，难免需要对长度各异的半导体二极管进行测试，对长度不同的半导体二极管进行测试前需要更换测试大盘，而更换测试大盘及调整测试至最佳状态需要少则一两小时的时间，降低了测试效率。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种半导体刷检测试大盘，解决了测试大盘无法对长度各异的半导体二极管进行测试的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：

一种半导体刷检测试大盘，所述测试大盘包括：窄盘组件和宽盘组件；

所述窄盘组件设置在测试大盘中段；

所述宽盘组件设置在窄盘组件两端，且宽盘组件的径向尺寸大于窄盘组件。

优选的，所述窄盘组件两侧对称设置，且由内至外依次包括：第一齿盘和第一搭载盘；

所述第一齿盘与第一搭载盘同轴设置；

所述第一齿盘对短二极管的引线进行卡设限位；

延伸出第一齿盘外的引线搭载在第一搭载盘的外壁上。

优选的，所述第一搭载盘的外端设置有同轴的第二搭载盘，所述第二搭载盘的直径大于第一搭载盘。

优选的，所述宽盘组件包括：第二齿盘和第三搭载盘；

所述第二齿盘同轴设置在第二搭载盘外端，所述第三搭载盘同轴设置在第二齿盘的外端；

所述第三搭载盘的直径大于第二搭载盘；

所述第二齿盘对长二极管的引线进行卡设限位；

延伸出第二齿盘外的引线搭载在第三搭载盘的外壁上。

优选的，所述第一搭载盘、第二搭载盘和第三搭载盘的外壁均设置有摩擦筋。

优选的，所述第三搭载盘外端设置有挡盘，所述挡盘的直径大于第三搭载盘。

优选的，所述测试大盘的中轴设置有驱动轴，所述驱动轴与动力系统连接，所述驱动轴驱动测试大盘旋转。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种半导体刷检测试大盘。与现有技术相比，具备以下有益效果：