[实用新型]一种电子万能试验机

说明书

本实用新型涉及电子元件试验领域，具体公开了一种电子万能试验机，包括：箱体；底撑装置，所述底撑装置与箱体固定连接；抗压实验装置，所述抗压实验装置与箱体相连；其中，所述抗压实验装置包括：横向测试装置，所述横向测试装置与箱体相连，用于电子元件的横向加压测试；纵向测试装置，所述纵向测试装置横向测试装置相连，用于电子预计的纵向加压测试，本实用新型的有益效果是：本装置设计合理，通过横向测试装置与纵向测试装置配合，实现电子元件的多向加压试验，进一步提高了电子试验的集成性和效率，改进了现有装置的不足。

技术领域

本实用新型涉及电子元件试验行业，具体是一种电子万能试验机。

背景技术

电子元件是电子电路中的基本元素，通常是个别封装，并具有两个或以上的引线或金属接点。电子元件须相互连接以构成一个具有特定功能的电子电路。

在一些电子元件外部安装有壳体，进行使用前，需进行抗压测试，现有试验机对电子元件的测试模式单一，影响测试效率，因此，为解决这一问题，亟需研制一种更为成熟的电子万能试验机。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电子万能试验机，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种电子万能试验机，包括：

箱体；

底撑装置，所述底撑装置与箱体固定连接；

抗压实验装置，所述抗压实验装置与箱体相连；

其中，所述抗压实验装置包括：

横向测试装置，所述横向测试装置与箱体相连，用于电子元件的横向加压测试；

纵向测试装置，所述纵向测试装置横向测试装置相连，用于电子预计的纵向加压测试。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本装置设计合理，通过横向测试装置与纵向测试装置配合，实现电子元件的多向加压试验，进一步提高了电子试验的集成性和效率，改进了现有装置的不足，具有较高的实用性和市场前景，适合大范围推广使用。

附图说明

图1为本实用新型实施例中一种电子万能试验机的结构示意图。

图2为本实用新型实施例中一种电子万能试验机中箱体的俯视图。

图3为图1中A处的局部结构示意图。

图中：1-箱体，2-底撑装置，3-抗压实验装置，4-横向测试装置，5-纵向测试装置，6-限位架，7-第一限位槽，201-第一驱动件，202-第一防滑座，401-第二驱动件，402-连接架，403-第一顶架，404-第一连接轴架，405-传动杆，406-第二连接轴架，501-第二顶架，502-第二防滑座，503-第二限位槽，504-第一固定轴架，505-联动杆，506-第二固定轴架。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

一种电子万能试验机，在本实用新型的一个实施例中，如图1所示，包括：箱体1；底撑装置2，所述底撑装置2与箱体1固定连接；抗压实验装置3，所述抗压实验装置3与箱体1相连；其中，所述抗压实验装置3包括：横向测试装置4，所述横向测试装置4与箱体1相连，用于电子元件的横向加压测试；纵向测试装置5，所述纵向测试装置5横向测试装置4相连，用于电子预计的纵向加压测试。

在本实用新型的一个实施例中：