[实用新型]一种对杂粮中杂质高精密性的检测装置

说明书

本申请公开了一种对杂粮中杂质高精密性的检测装置，涉及杂粮杂质检测技术领域，包括分选箱，所述分选箱内部转动有滚筒筛，所述滚筒筛的其中一端的所述分选箱上设有第一电机，所述第一电机与所述分选箱固定连接。本申请通过滚筒筛、第二电机、扇叶、滤袋、和筛分机等结构间的配合设置，能够通过滚筒筛首先进行初步分选，然后通过第二电机带动扇叶转动进行风选，最后通过筛分机进行第三次筛选，将杂粮和内部的杂质清理干净并收集起来，然后通过对杂粮和杂质进行称重后即可达到杂粮内部杂质的占比，本装置结构简单，使用方便，且能够对大量的杂粮进行检测，尽量避免了现有杂粮杂质的方式检测成本高，无法普及使用的问题的问题。

技术领域

本申请涉及杂粮杂质检测技术领域，尤其是涉及一种对杂粮中杂质高精密性的检测装置。

背景技术

杂粮通常是指水稻、小麦、玉米、大豆和薯类五大作物以外的粮豆作物。主要有：高粱、谷子、荞麦（甜荞、苦荞）、燕麦（莜麦）、大麦、糜子、黍子、薏仁、籽粒苋以及菜豆（芸豆）、绿豆、小豆（红小豆、赤豆）、蚕豆、豌豆、豇豆、小扁豆（兵豆）、黑豆等。其特点是生长期短、种植面积少、种植地区特殊、产量较低，一般都含有丰富的营养成分。

杂粮在封存和出售时，一般需要进行杂质检测，现有方式一般采用锥束CT获取样本在不同扫描角度下的二维切片图像，推演粮食籽粒和杂质密度与X射线吸收系数的关系，该方法检测成本高，无法普及使用。

实用新型内容

为了改善现有杂粮杂质的方式该方法检测成本高，无法普及使用的问题，本申请提供一种对杂粮中杂质高精密性的检测装置。

本申请提供一种对杂粮中杂质高精密性的检测装置，采用如下的技术方案：

一种对杂粮中杂质高精密性的检测装置，包括分选箱，所述分选箱内部转动有滚筒筛，所述滚筒筛的其中一端的所述分选箱上设有第一电机，所述第一电机与所述分选箱固定连接，所述第一电机的输出端贯穿所述分选箱，所述第一电机的输出端与所述滚筒筛固定连接，所述滚筒筛下方设有收集装置，所述收集装置与所述分选箱内壁固定连接，所述收集装置底部的其中一侧固定连接有吹风管，所述吹风管与所述收集装置底部相连通，所述吹风管内部固定连接有第二电机，所述第二电机输出端上固定连接有扇叶，所述收集装置与所述吹风管相对的一侧固连接有出风管，所述出风管与所述收集装置内部相连通，所述出风管远离所述收集装置的一端上可拆卸连接有滤袋，所述收集装置底部设有筛分机，所述筛分机与所述分选箱内壁固定连接，所述分选箱底部侧壁上可拆卸连接有收集盒，所述收集盒与所述分选箱内部空腔相连通。

可选的，所述分选箱顶部设有进料斗，所述进料斗与所述分选箱固定连接，所述进料斗底部与所述滚筒筛内部相连通。

可选的，所述滚筒筛呈圆筒状结构，所述滚筒筛内腔两端固定连接有连接杆，所述滚筒筛通过所述连接杆与所述分选箱内壁转动连接。

可选的，所述收集装置顶部呈漏斗状结构，所述收集装置顶部内腔宽度大于所述滚筒筛的长度，所述收集装置底部呈圆管状结构，所述吹风管和所述出风管与所述收集装置底部固定连接。

可选的，所述滤袋上固定连接有螺环，所述螺环与所述出风管相螺接，所述螺环内部设有挡板，所述挡板侧壁上设有连接轴，所述挡板通过所述连接轴与所述螺环内腔转动连接。

可选的，所述筛分机与所述分选箱内壁向下呈三十度夹角，所述筛分机底端的所述分选箱上开设有第一出料口，所述第一出料口贯穿所述分选箱，所述第一出料口与外部环境相连通。

可选的，所述筛分机的底部设有斜板，所述斜板顶部呈圆弧状，所述斜板的底部与所述分选箱底部内壁固定连接。

可选的，所述斜板的底部的所述分选箱侧壁上开设有第二出料口，所述第二出料口贯穿所述分选箱，所述第二出料口与所述收集盒内部相连通。

综上所述，本申请有益效果如下：