[实用新型]一种用开尔文测试方法的组件连接头

说明书

本实用新型公开了一种用开尔文测试方法的组件连接头，涉及到芯片测试领域，包括连接座和设置于连接座一侧的连接块，连接座的另一侧中部开设有凹槽，凹槽的内部设置有测试头，连接座的一侧两端均开设有导向槽，连接座的两端外侧壁上均开设有卡槽，连接块的一侧中部开设有插槽，插槽的内部插接有引脚。本实用新型通过在连接座上设置有导向槽，在连接块上设置有导向板，导向板和导向槽配合使得连接座上的侧视头和连接块上的引脚能够精确的对接并插入，提高了本装置的工作效率，同时在连接座上设置有卡槽，在连接块上设置有弹性卡板，并通过挡板将弹性卡板限位，使得连接座和连接块连接稳定，提高了本装置测试的稳定性。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，特别涉及一种用开尔文测试方法的组件连接头。

背景技术

芯片又称集成电路，是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。在芯片的生产过程中，性能测试是其中重要的一环。目前使用的芯片测试头作为单产品检测，检测时通过引脚进行检测，引脚的插针和测试头上的插孔较小，现有的测试方式是直接通过手工去插入，使得引脚不方便插接，降低了测试的效率。因此，发明一种用开尔文测试方法的组件连接头来解决上述问题很有必要。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用开尔文测试方法的组件连接头，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用开尔文测试方法的组件连接头，包括连接座和设置于连接座一侧的连接块，所述连接座的另一侧中部开设有凹槽，所述凹槽的内部设置有测试头，所述连接座的一侧两端均开设有导向槽，所述连接座的两端外侧壁上均开设有卡槽，所述连接块的一侧中部开设有插槽，所述插槽的内部插接有引脚，所述连接块的一侧两端均固定连接有导向板，所述导向板与导向槽相适配，所述连接块一侧两端边缘均固定连接有弹性卡板，所述弹性卡板与卡槽相适配。

优选的，所述连接座的另一侧中部设置有活动板，所述活动板的一侧固定连接有压紧块，所述压紧块位于凹槽内并与测试头相贴合。

优选的，所述活动板的两端中部均开设有通孔，所述通孔的内部贯穿连接有螺柱，所述螺柱的一端与连接座的另一侧面固定连接，所述螺柱的另一端外侧套接有螺母。

优选的，所述连接座的两端均贴合连接有活动块，所述活动块的一端固定连接有挡板，所述挡板与弹性卡板的外侧相对应。

优选的，所述活动块的内侧中部固定连接有限位滑块，所述连接座的两端外侧壁上开设有限位滑槽，所述限位滑块位于限位滑槽的内部。

优选的，所述限位滑槽的槽底粘接有阻尼层，所述限位滑块的一端与阻尼层相贴合。

本实用新型的技术效果和优点：

本实用新型通过在连接座上设置有导向槽，在连接块上设置有导向板，导向板和导向槽配合使得连接座上的侧视头和连接块上的引脚能够精确的对接并插入，提高了本装置的工作效率，同时在连接座上设置有卡槽，在连接块上设置有弹性卡板，并通过挡板将弹性卡板限位，使得连接座和连接块连接稳定，提高了本装置测试的稳定性，在连接座上设置有可拆卸的活动板，活动板通过压紧块将测试头安装，使得测试头便于拆卸更换，进而提高了本装置的工作效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构剖面示意图。

图2为本实用新型的连接块结构立体示意图。

图3为本实用新型的连接座结构侧视示意图。